特許

J-GLOBAL ID：201103043225793543

プラズマを用いたサンプリング法およびサンプリング装置

発明者： 沖野 晃俊 ,  宮原 秀一 ,  永田 洋一 ,  重田 香織 ,  岩井 貴弘 ,  高橋 勇一郎
出願人/特許権者： 国立大学法人東京工業大学
代理人 (7件)： 中尾 俊輔 ,  伊藤 高英 ,  畑中 芳実 ,  大倉 奈緒子 ,  玉利 房枝 ,  鈴木 健之 ,  高橋 洋平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-298462
公開番号（公開出願番号）：特開2011-137740
出願日： 2009年12月28日
公開日（公表日）： 2011年07月14日
要約：

【課題】分析対象物を破壊することなく、試料を採取し、直接、分析装置に導入することができるとともに、分析精度を向上させることを可能とするプラズマを用いたサンプリング法およびサンプリング装置を提供すること。【解決手段】閉空間内に納められた分析対象物の表面にプラズマを放出し、その表層部を気相中に飛散させてサンプルガスとし、当該サンプルガスをガス流によって前記閉空間から導入手段を通して分析装置に導入することを特徴とする。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

閉空間内に納められた分析対象物の表面にプラズマを放出し、その表層部を気相中に飛散させてサンプルガスとし、当該サンプルガスをガス流によって前記閉空間から導入手段を通して分析装置に導入することを特徴とするプラズマを用いたサンプリング法。

IPC (2件)：

G01N 1/22 ,  G01N 1/00

FI (2件)：

G01N1/22 Y ,  G01N1/00 101R

Fターム (9件)：

2G052AC12 ,  2G052CA04 ,  2G052EB01 ,  2G052GA15 ,  2G052GA24 ,  2G052GA27 ,  2G052JA07 ,  2G052JA09 ,  2G052JA11

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 表面イオン化技術で用いるための固体を保持する器具
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2009-513406   出願人：イオンセンスインコーポレイテッド
• 放電プラズマ発生方法及び装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-110302   出願人：三井化学株式会社
• プラズマシステム
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2007-539632   出願人：ダウ・コーニング・アイルランド・リミテッド
• 特開平2-154143
  

引用文献：

審査官引用 (4件)

• Hydrophilization treatment of copper surface usingan atmospheric damagefree plasma source
• ダメージフリープラズマ源を用いた親水化処理実験と分光特性測定
• 和文標題マイクロプラズマイオン源用質量分析インターフェイスの直接観察
• Characterization of Direct-Current Atmospheric-Pressure Discharges Useful for Ambient Desorption/Ion