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J-GLOBAL ID：201202135405027771   整理番号：12A1461659

FIS構造における界面Siのフォトレフレクタンス分光法による評価

著者 (8件)： 神田浩文 (大阪大 基礎工) ,  寒川雅之 (大阪大 基礎工) ,  北井聡 (大阪大 基礎工) ,  金島岳 (大阪大 基礎工) ,  児玉一志 (大阪大 基礎工) ,  奥山雅則 (大阪大 基礎工) ,  藤本晶 (和歌山工高専) ,  江利口浩二 (松下電器産業)
資料名： 応用物理学会学術講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Annual Meeting. Japan Society of Applied Physics)
巻： 62nd  号： 2  ページ： 378  発行年： 2001年09月11日 
JST資料番号： Y0055A  資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

タイトルに関連する用語 (6件)： 界面 ,  Si ,  フォト ,  レフレクタンス ,  分光法 ,  評価