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文献
J-GLOBAL ID：201202206994093724
整理番号：12A1518033 ファンアウトブランチに着目した欠陥検出テスト生成
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河野博志
(Ehime Univ. Graduate School of Sci. and Engineering)
, Ehime Univ. Graduate School of Sci. and Engineering について
樋上喜信
(Ehime Univ. Graduate School of Sci. and Engineering)
, Ehime Univ. Graduate School of Sci. and Engineering について
高橋寛
(Ehime Univ. Graduate School of Sci. and Engineering)
Ehime Univ. Graduate School of Sci. and Engineering について
資料名：
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)
(Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) について
巻： 2012 ページ： ROMBUNNO.10-7 発行年： 2012年09月29日
JST資料番号： L1738B 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
シソーラス用語：
準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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個数
, 個数 について
枝
, 枝 について
試験
, 試験 について
遅れ
, 遅れ について
*故障検出
, 故障検出 について
電気故障
, 電気故障 について
テストパターン
, テストパターン について
閾値
, 閾値 について
ゲート回路
, ゲート回路 について
切断
, 切断 について
回路
, 回路 について
*ファンアウト
, ファンアウト について
ベンチマーク回路
, ベンチマーク回路 について
断線
断線 について
準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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オープン故障
, オープン故障 について
タイム遅延
, タイム遅延 について
*テスト生成
, テスト生成 について
遷移故障
遷移故障 について
分類 (1件)：
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
固体デバイス計測・試験・信頼性
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
(NC03040G)
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
タイトルに関連する用語 (3件)：
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
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着目
, 着目 について
欠陥検出
, 欠陥検出 について
テスト生成
テスト生成 について
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