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J-GLOBAL ID：201202209479678000   整理番号：12A0095508

粒子線励起X線放出分析のためのポリプロピレン薄膜の大気圧プラズマジェットによる濡れ性の向上

Wettability Improvement on Polypropylene Thin Film by using Atmospheric Plasma Jet for Particle Induced X-ray Emission Analysis

著者 (9件)： 福田剛久 (長岡技科大) ,  藤田基 (新潟病院) ,  長谷川純 (東京工大) ,  小栗慶之 (東京工大) ,  鈴木常生 (長岡技科大) ,  末松久幸 (長岡技科大) ,  佐々木徹 (長岡技科大) ,  菊池崇志 (長岡技科大) ,  原田信弘 (長岡技科大)
資料名： 電気学会プラズマ研究会資料  (電気学会研究会資料)
巻： PST-11  号： 91-104.106-111  ページ： 33-36  発行年： 2011年12月15日 
JST資料番号： Z0951A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 粒子線励起X線放出分析(PIXE分析)を行うとき液体試料の支持台として用いられるポリプロピレン薄膜(PP膜)へ大気圧プラズマジェットを照射し,表面処理を行い照射効果を調べた。大気圧プラズマジェットを数秒照射することにより,PP膜の濡れ性が向上した。処理したPP膜を蓋つき容器に保管したとき,濡れ性は2日間程度持続した。PIXE分析を用いてPP膜の元素スペクトルの測定を行い,PP膜に不純物が付着していないことを確認した。

シソーラス用語： PIXE分析 ,  *ポリプロピレン ,  *プラスチックフィルム ,  プラズマジェット ,  *プラズマ曝露 ,  表面処理 ,  濡れ ,  X線スペクトル ,  照射効果 ,  大気圧プラズマジェット
準シソーラス用語： PIXE【分析】 ,  プラスチック薄膜 ,  プラズマ照射 ,  ポリプロピレン薄膜 ,  元素スペクトル ,  支持台 ,  濡れ性

分類 (1件)： プラズマ応用  (BJ02110K)

引用文献 (6件)：

• (1) 日本学術振興会プラズマ材料科学第153委員会編:「大気圧プラズマ-基礎と応用-」,オーム社(2009)
• (2)福田剛久他:「超音速流を用いた大気圧プラズマジェットの開発」第20回電気学会東京支部新潟支所研究発表会予稿集P-24,pp.63(2010)
• (3)福田剛久他:「ラバールノズルを用いた大気圧プラズマジェットによるポリプロピレン薄膜の濡れ性向上」電気学会平成23年基礎・材料・共通部門大会プログラムおよび要旨集,pp.20(2011)
• (4) Y. Oguri, K. Miyake, H. Fukuda, J. Kaneko, J. Hasegawa, M. Ogawa and M. Shiho: "Application of PIXE Analysis to the Study of Electrokinetic Removal of Cesium from Soil", Int. J. PIXE 14 pp.49-56. (2004)
• (5)石井慶造:「粒子線励起X線放出(PIXE)とその応用」,日本物理学会誌,Vol.66, No.1, pp.12-18(2011)

タイトルに関連する用語 (9件)： 粒子線 ,  励起 ,  X線 ,  放出 ,  分析 ,  ポリプロピレン ,  薄膜 ,  大気圧プラズマジェット ,  濡れ性