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J-GLOBAL ID：201202277851030467   整理番号：12A0543305

低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について

A method to reduce shift-toggle rate for low power BIST

著者 (10件)： 加藤隆明 (九州工大 情報工) ,  加藤隆明 (JST-CREST) ,  WANG Senling (九州工大 大学院情報工学府) ,  WANG Senling (JST-CREST) ,  宮瀬絋平 (九州工大 大学院情報工学研究院) ,  宮瀬絋平 (JST-CREST) ,  佐藤康夫 (九州工大 大学院情報工学研究院) ,  佐藤康夫 (JST-CREST) ,  梶原誠司 (九州工大 大学院情報工学研究院) ,  梶原誠司 (JST-CREST)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 111  号： 435(DC2011 76-86)  ページ： 25-29  発行年： 2012年02月06日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： スキャン設計を用いた組込み自己テスト(BIST)では,テスト時の高い電力消費が問題である。本研究では,スキャンBISTにおいてスキャンFFの値をシフトする時にトグルするFFの割合(シフトトグル率)を低減することにより,テスト時の消費電力を低減する手法を提案する。提案手法では,テスト発生器で発生した疑似ランダムテストパターンの反転確率を減らす低減回路を付加する。実験では,低減回路によって生成されたテストパターンのシフトトグル率と故障検出率の測定結果について調べ,その有効性を示す。(著者抄録)

シソーラス用語： *BIST ,  *LSI【IC】 ,  消費電力 ,  テストパターン ,  確率
準シソーラス用語： 低電力 ,  反転確率

分類 (2件)： CAD,CAM  (JE10000A) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (5件)： 低電力 ,  BIST ,  シフト ,  トグル ,  手法