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J-GLOBAL ID：201302231147057144   整理番号：13A1855302

欠陥検出評価関数に基づくテストパターンの選択

著者 (3件)： 稲田暢 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  高橋寛 (愛媛大 大学院理工学研究科)
資料名： 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)  (Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))
巻： 2013  ページ： ROMBUNNO.10-6  発行年： 2013年09月20日 
JST資料番号： L1738B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *故障検出 ,  評価関数 ,  *テストパターン ,  *LSI【IC】 ,  試験 ,  モデル ,  励起関数 ,  短絡【電気】 ,  電気故障 ,  故障モデル ,  断線
準シソーラス用語： オープン故障 ,  テスト生成 ,  ブリッジ故障 ,  *欠陥検出

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (3件)： 欠陥検出 ,  評価関数 ,  テストパターン