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J-GLOBAL ID：201302236550586906   整理番号：13A0026519

マルチサイクルBISTにおけるスキャン出力の電力低減手法

A Scan-Out Power Reduction Method for Multi-Cycle BIST

著者 (8件)： WANG Senling (九州工大) ,  佐藤康夫 (九州工大) ,  梶原誠司 (九州工大) ,  宮瀬紘平 (九州工大) ,  WANG Senling (JST-CREST) ,  佐藤康夫 (JST-CREST) ,  梶原誠司 (JST-CREST) ,  宮瀬紘平 (JST-CREST)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 112  号： 321(DC2012 25-72)  ページ： 249-254  発行年： 2012年11月19日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 論理BISTにおけるテスト時の電力消費低減が課題である。スキャン入力時の電力やキャプチャ時の電力は様々な制御手法が提案されているが,キャプチャパターンのスキャン出力時の電力制御は必ずしも容易ではなくこれまでの研究も多くない。本研究ではマルチサイクルBISTを活用したスキャン出力時の電力低減手法を提案する。スキャン出力時に一部のFF(Flip-Flop)の値を書き換えることにより,故障検出率の低下を押さえながら,スキャン出力時の電力を低減できることを示す。(著者抄録)

シソーラス用語： *BIST ,  消費電力 ,  *繰返し試験 ,  回路試験 ,  *電力制御 ,  双安定回路 ,  故障検出 ,  *LSI【IC】 ,  評価試験 ,  面積 ,  データ解析 ,  固有値 ,  ベンチマーク
準シソーラス用語： サイクル試験 ,  スキャンテスト ,  フリップフロップ ,  低電力

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (6件)： マルチ ,  サイクル ,  BIST ,  スキャン ,  電力低減 ,  手法