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文献
J-GLOBAL ID：201302242132335018
整理番号：13A1855305 抵抗性オープン故障診断のための後方追跡
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竹田和生
(愛媛大 大学院理工学研究科)
, 愛媛大 大学院理工学研究科 について
樋上喜信
(愛媛大 大学院理工学研究科)
, 愛媛大 大学院理工学研究科 について
高橋寛
(愛媛大 大学院理工学研究科)
愛媛大 大学院理工学研究科 について
資料名：
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)
(Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) について
巻： 2013 ページ： ROMBUNNO.10-9 発行年： 2013年09月20日
JST資料番号： L1738B 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
シソーラス用語：
準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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切断
, 切断 について
*電気故障
, 電気故障 について
故障診断
, 故障診断 について
抵抗
, 抵抗 について
*超小形回路技術
, 超小形回路技術 について
*センサ
, センサ について
双安定回路
, 双安定回路 について
*断線
断線 について
準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*オープン故障
, オープン故障 について
オンチップ
, オンチップ について
フリップフロップ回路
フリップフロップ回路 について
分類 (1件)：
分類
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固体デバイス計測・試験・信頼性
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
(NC03040G)
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
タイトルに関連する用語 (3件)：
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
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抵抗性
, 抵抗性 について
故障診断
, 故障診断 について
追跡
追跡 について
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