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J-GLOBAL ID：201302279035987095   整理番号：13A0561076

巨大サイズ不整合系における機能性の複雑な点欠陥構造

Functional Complex Point-Defect Structure in a Huge-Size-Mismatch System

著者 (11件)： ISHIKAWA Ryo (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  SHIBATA Naoya (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  SHIBATA Naoya (JST-PRESTO, Saitama, JPN) ,  OBA Fumiyasu (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  TANIGUCHI Takashi (National Inst. Materials Sci., Ibaraki, JPN) ,  FINDLAY Scott D. (Monash Univ., Victoria, AUS) ,  TANAKA Isao (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  TANAKA Isao (Japan Fine Ceramics Center, Nagoya, JPN) ,  IKUHARA Yuichi (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  IKUHARA Yuichi (Japan Fine Ceramics Center, Nagoya, JPN) ,  IKUHARA Yuichi (Tohoku Univ., Sendai, JPN)
資料名： Physical Review Letters  (Physical Review Letters)
巻： 110  号： 6  ページ： 065504.1-065504.5  発行年： 2013年02月08日 
JST資料番号： H0070A  ISSN： 0031-9007  CODEN： PRLTAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *窒化ホウ素 ,  *ドーピング ,  透過型走査電子顕微鏡 ,  *セリウム ,  ドーパント ,  置換型原子 ,  超硬材料 ,  化合物半導体 ,  共有結合 ,  原子半径 ,  不整合 ,  陰極線ルミネセンス ,  原子価 ,  *点欠陥
準シソーラス用語： *STEM【顕微鏡】

分類 (1件)： 半導体の格子欠陥  (BK12040Q)

タイトルに関連する用語 (3件)： サイズ ,  不整合 ,  点欠陥