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文献
J-GLOBAL ID：201402257435487907
整理番号：14A1258491 マルチサイクルテストでの遷移故障に対するテスト生成
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藤原翼
(愛媛大 大学院理工学研究科)
, 愛媛大 大学院理工学研究科 について
樋上喜信
(愛媛大 大学院理工学研究科)
, 愛媛大 大学院理工学研究科 について
WANG S.
WANG S. について
(愛媛大 大学院理工学研究科)
, 愛媛大 大学院理工学研究科 について
高橋寛
(愛媛大 大学院理工学研究科)
, 愛媛大 大学院理工学研究科 について
小林真也
(愛媛大 大学院理工学研究科)
愛媛大 大学院理工学研究科 について
資料名：
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)
(Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) について
巻： 2014 ページ： ROMBUNNO.10-13 発行年： 2014年09月12日
JST資料番号： L1738B 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
シソーラス用語：
準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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電気故障
, 電気故障 について
試験
, 試験 について
*縮退故障
, 縮退故障 について
評価試験
, 評価試験 について
ベンチマーク
, ベンチマーク について
*繰返し試験
, 繰返し試験 について
ベンチマークテスト
ベンチマークテスト について
準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*テスト生成
, テスト生成 について
ベンチマーク試験
, ベンチマーク試験 について
遷移故障
遷移故障 について
分類 (2件)：
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
半導体集積回路
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
(NC03162T)
, その他のシステムプログラミング
半導体集積回路 について
(JD03070M)
その他のシステムプログラミング について
タイトルに関連する用語 (2件)：
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
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遷移故障
, 遷移故障 について
テスト生成
テスト生成 について
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