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文献
J-GLOBAL ID：201502210269851273
整理番号：15A1382107 マルチサイクルテストにおけるクロック信号線のd-故障に対する診断技術
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和田祐介
(愛媛大 大学院理工学研究科)
, 愛媛大 大学院理工学研究科 について
樋上喜信
(愛媛大 大学院理工学研究科)
, 愛媛大 大学院理工学研究科 について
WANG S.
WANG S. について
(愛媛大 大学院理工学研究科)
, 愛媛大 大学院理工学研究科 について
高橋寛
(愛媛大 大学院理工学研究科)
, 愛媛大 大学院理工学研究科 について
小林真也
(愛媛大 大学院理工学研究科)
愛媛大 大学院理工学研究科 について
資料名：
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)
(Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))
電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) について
巻： 2015 ページ： ROMBUNNO.10-22 発行年： 2015年09月26日
JST資料番号： L1738B 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
シソーラス用語：
準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*故障診断
, 故障診断 について
*同期信号
, 同期信号 について
*試験
, 試験 について
テストパターン
, テストパターン について
*故障検出
, 故障検出 について
双安定回路
双安定回路 について
準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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LSI試験
, LSI試験 について
*マルチサイクルテスト
マルチサイクルテスト について
分類 (1件)：
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
半導体集積回路
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
(NC03162T)
半導体集積回路 について
タイトルに関連する用語 (3件)：
タイトルに関連する用語
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クロック信号
, クロック信号 について
故障
, 故障 について
診断技術
診断技術 について
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