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J-GLOBAL ID:201502217853658579   整理番号:15A0971934

超解像蛍光顕微鏡と高分子 非点収差を用いた高分子の三次元ダイナミックスの評価

著者 (4件):
資料名:
巻: 64  号:ページ: 575-577  発行年: 2015年09月01日 
JST資料番号: F0168A  ISSN: 0454-1138  CODEN: KOBUA3  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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材料薄膜は厚さがナノメートルスケールになると表面や基板界面の影響を強く受け,拡散や回転運動などが膜厚方向とほかの方向とで大きく異なる。本稿では非点収差顕微鏡を用いて膜厚方向のダイナミックスを評価する手法を解説する。さらに高分子薄膜や液晶薄膜を例にとり,膜厚方向のダイナミックスを評価した最近の研究を紹介する。(著者抄録)
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分類 (3件):
分類
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分光分析  ,  高分子固体の物理的性質  ,  電子顕微鏡,イオン顕微鏡 
タイトルに関連する用語 (5件):
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