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文献
J-GLOBAL ID：201602219732259286
整理番号：16A0362147 マルチサイクルテストのためのFFの構造的評価
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門田一樹
(愛媛大)
, 濱田宗
(愛媛大)
, WANG S.
WANG S. について
(愛媛大)
, 樋上喜信
(愛媛大)
, 高橋寛
(愛媛大)
, 岩田浩幸
(ルネサスシステムデザイン)
, ルネサスシステムデザイン について
松嶋潤
(ルネサスシステムデザイン)
ルネサスシステムデザイン について
資料名：
電子情報通信学会大会講演論文集(CD-ROM)
(電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集(CD-ROM))
電子情報通信学会大会講演論文集(CD-ROM) について
巻： 2016 号： 総合大会 ページ： ROMBUNNO.D-10-2 発行年： 2016年03月01日
JST資料番号： G0508B ISSN： 1349-144X 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
シソーラス用語：
準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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試験
, 試験 について
サイクル
, サイクル について
*繰返し試験
, 繰返し試験 について
マルチ
, マルチ について
*双安定回路
, 双安定回路 について
構造特性
, 構造特性 について
評価
, 評価 について
故障検出
故障検出 について
準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*サイクル試験
, サイクル試験 について
テスト
, テスト について
*フリップフロップ
, フリップフロップ について
構造的特性
構造的特性 について
分類 (1件)：
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
固体デバイス計測・試験・信頼性
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
(NC03040G)
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
タイトルに関連する用語 (1件)：
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
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評価
評価 について
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