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J-GLOBAL ID：201602260936167648   整理番号：16A0488356

低温プラズマ表面付着物質量分析におけるプロトン化に水素添加が与える影響の調査

著者 (6件)： 相田真里 (東京工大 大学院) ,  掛川賢 (東京工大 大学院) ,  名児耶友樹 (科学警察研) ,  宮原秀一 (東京工大 大学院) ,  瀬戸康雄 (科学警察研) ,  沖野晃俊 (東京工大 大学院)
資料名： 分析化学討論会講演要旨集  (分析化学)
巻： 76th  ページ： 6  発行年： 2016年05月14日 
JST資料番号： X0009A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *プラズマ脱離質量分析 ,  プラズマ ,  プロトン化 ,  表面 ,  付着物 ,  ヘリウム ,  水素 ,  添加物効果 ,  薬剤分析 ,  微量分析 ,  低温プラズマ ,  非ステロイド性消炎鎮痛薬 ,  窒素複素環化合物 ,  芳香族化合物 ,  芳香族カルボン酸 ,  カルボアミド ,  フェノールエーテル
準シソーラス用語： 非ステロイド系消炎薬

分類 (1件)： 有機化合物の物理分析  (CC03034A)

物質索引 (2件)： イソプロピルアンチピリン ,  o-エトキシベンズアミド

タイトルに関連する用語 (6件)： 低温プラズマ ,  付着物 ,  質量分析 ,  プロトン化 ,  水素添加 ,  調査