文献

J-GLOBAL ID：201702272668695795   整理番号：17A1364412

網羅的ソフトモードフォノン探索によるHfO₂薄膜の強誘電性の理論計算

著者 (7件)： 森分博紀 (JFCC ナノ構造研) ,  森分博紀 (NIMS) ,  小西綾子 (JFCC ナノ構造研) ,  小西綾子 (NIMS) ,  東後篤史 (京大) ,  清水荘雄 (東京工大) ,  舟窪浩 (東京工大)
資料名： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
巻： 72  号： 2  ページ： ROMBUNNO.22aB11-6  発行年： 2017年09月25日 
JST資料番号： S0671C  ISSN： 2189-079X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *ソフトモード ,  *フォノン ,  *酸化ハフニウム ,  *強誘電性 ,  *圧力効果 ,  *誘電転移 ,  強誘電相転移
準シソーラス用語： 強誘電ソフトモード ,  二酸化ハフニウム ,  圧力依存性 ,  強誘電体相転移

分類 (3件)： 相転移・臨界現象一般  (BL04010V) ,  強誘電体,反強誘電体,強弾性  (BM05030B) ,  結晶中のフォノン・格子振動  (BL03020Z)

タイトルに関連する用語 (5件)： 探索 ,  HfO2 ,  薄膜 ,  強誘電性 ,  理論計算