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J-GLOBAL ID：201802218095877687   整理番号：18A0633221

電界下X線回折による(111)正方晶PbZr_0.35Ti_0.65O₃ナノロッドの圧電特性の評価

著者 (8件)： 岡本一輝 (名古屋大 工) ,  山田智明 (名古屋大 工) ,  山田智明 (JST-さきがけ) ,  坂田修身 (NIMS) ,  坂田修身 (東京工大) ,  今井康彦 (JASRI) ,  吉野正人 (名古屋大 工) ,  長崎正雅 (名古屋大 工)
資料名： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 65th  ページ： ROMBUNNO.19p-C104-6  発行年： 2018年03月05日 
JST資料番号： Y0054B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *ナノロッド ,  *圧電気 ,  *ジルコニウム酸チタン酸鉛 ,  正方晶系 ,  結晶方位 ,  X線回折 ,  電場効果 ,  電子顕微鏡観察 ,  走査電子顕微鏡

分類 (2件)： 圧電気,焦電気,エレクトレット  (BM05040M) ,  酸化物薄膜  (BK14050P)

タイトルに関連する用語 (6件)： 電界 ,  X線回折 ,  正方晶 ,  ナノロッド ,  圧電特性 ,  評価