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J-GLOBAL ID:201902249026086724   整理番号:19A2598048

MOS界面におけるレーザーパルス励起THz波放射機構の考察-表面電場とフォトデンバー効果の分離-

著者 (7件):
資料名:
巻: 80th  ページ: ROMBUNNO.18a-E303-6  発行年: 2019年09月04日 
JST資料番号: Y0055B  ISSN: 2758-4704  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡(Laser Terahertz Emission Microscope: LTEM)は、フェムト秒レーザーを半導体等の試料に照射し、放射されるTHz波を可視化する技術であり1)、Si-MOS2)やSiC...【本文一部表示】
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分類 (1件):
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電磁場中の粒子の運動及び放射 

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