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J-GLOBAL ID：202002242751104031   整理番号：20A0993355

原子層WTe₂のフレーク試料作製とARPESによるバンド構造の観測

Sample fabrication of an atomically thin WTe₂ flake and observation of its band structure by angle-resolved photoemission spectroscopy

著者 (12件)： 田中佑磨 (東大 工) ,  増渕覚 (東大 生産技研) ,  坂野昌人 (東大 工) ,  大島敦史 (東大 工) ,  岡崎尚太 (東京工大 フロンティア創造共同研セ) ,  笹川崇男 (東京工大 フロンティア創造共同研セ) ,  渡邊賢司 (物質・材料研究機構) ,  谷口尚 (物質・材料研究機構) ,  町田友樹 (東大 生産技研) ,  町田友樹 (JST-CREST) ,  石坂香子 (東大 工) ,  石坂香子 (理研 CEMS)
資料名： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
巻： 75  号： 1  ページ： ROMBUNNO.19aA42-11  発行年： 2020年03月23日 
JST資料番号： S0671C  ISSN： 2189-079X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： タングステン化合物 ,  テルル化物 ,  *フレーク ,  *バンド構造 ,  電子構造 ,  状態 ,  *積層構造 ,  *トポロジカル状態 ,  *テルル化タングステン ,  *ARPES
準シソーラス用語： *二テルル化タングステン ,  *角度分解光電子分光

分類 (3件)： 薄膜成長技術・装置  (BK14020I) ,  電子分光法  (BK01050P) ,  金属結晶の電子構造  (BM02050C)

タイトルに関連する用語 (6件)： 原子層 ,  フレーク ,  試料作製 ,  ARPES ,  バンド構造 ,  観測