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J-GLOBAL ID：202102236534358611   整理番号：21A0331943

マルチサイクルテストにおけるスキャンパターン削減指向制御ポイントの選定法

Control Point Selection Approach for Scan Pattern Reduction under Multi-cycle Test

著者 (7件)： 環輝 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  WANG Senling (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  高橋寛 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  岩田浩幸 (ルネサスエレクトロニクス) ,  前田洋一 (ルネサスエレクトロニクス) ,  松嶋潤 (ルネサスエレクトロニクス)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告(Web)  (IEICE Technical Report (Web))
巻： 120  号： 234(VLD2020 11-38)  ページ： 24-29 (WEB ONLY)  発行年： 2020年11月10日 
JST資料番号： U2030A  ISSN： 2432-6380  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： マルチサイクルテストでは,スキャンシフト動作に続いて複数回のキャプチャ動作を実行することによって,少ないスキャンインパターンで目標故障検出率を達成できる.一方,キャプチャサイクル数の増加に伴い,時間展開した論理回路が大規模化することおよびサイクルごとに生成されたキャプチャパターンのランダム性が低下することから,新たな故障を検出できる可能性が低下することが問題である.本稿では,マルチサイクルテストにおける時間展開回路を考慮して,組合せ回路内部に論理値を外部から設定できる「論理値制御回路」を挿入するゲート出力の選定法を提案する.提案法では,論理値制御回路を挿入する候補のゲート出力から出力側に張る円錐回路(前方円錐回路)とその前方円錐回路の境界上のゲートから入力側に張る円錐回路(後方円錐回路)のそれぞれに含まれるゲート数に基づく評価値を新たに導入し,その評価値に従って論理値制御回路を挿入するゲート出力を決定する.最後に,提案法の効果をベンチマーク回路において評価する.(著者抄録)

シソーラス用語： 国際規格 ,  *回路試験 ,  テストパターン ,  故障検出 ,  *自動車 ,  安全性 ,  *BIST ,  早期診断 ,  システム ,  故障率 ,  *AND回路 ,  可試験性 ,  評価基準 ,  実験 ,  制御 ,  擬似乱数 ,  評価実験 ,  *機能安全 ,  *車載電子機器
準シソーラス用語： ISO26262 ,  スキャンテスト ,  *機能安全性 ,  *車載システム ,  マルチサイクルテスト ,  論理制御

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  論理回路  (NC05070B)

引用文献 (7件)：

• S. Kajihara, M. Matsuzono, H. Yamaguchi, Y. Sato, K. Miyase, and X. Wen, “On Test Pattern Compaction with Multi-Cycle and Multi-Observation Scan Test, ” Proc. Int’l. Symposium on Com. and Inf. Tech. (ISCIT), Tokyo, pp. 723- 726, Oct. 2010. DOI: 10.1109/ISCIT.2010.5665084
• I. Pomeranz, ′′A Multicycle Test Set Based on a Two-Cycle Test Set with Constant Primary Input Vectors,′′ IEEE Trans. on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, vol. 34, no. 7, pp. 1124-1132, July 2015. DOI: 10.1109/TCAD.2015.2408257
• S. Wang,T. Aono,Y. Higami,H. Takahashi,H. Iwata, Y. Maeda, and J. Matsushim, ′′Capture-Pattern-Control to Address the Fault Detection Degradation Problem of MultiCycle Test in Logic BIST,′′ Proc. IEEE Asian Test Symposium, Hefei, pp. 155-160, 2018. DOI: 10.1109/ATS.2018.00038
• 青野智己, 中岡典弘, 周細紅, 王森レイ, 樋上喜信, 高橋寛, 岩 田浩幸, 前田洋一, 松嶋潤, ′′マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのテストポイント挿入法,′′電子情報通信学会技術研究報告, Vol.119(420), pp.19-24, 2020年2月.
• J. Rearick, ′′Too Much Delay Fault Coverage is a Bad Thing,′′ Proc. Int’l Test Conf., Baltimore, MD, pp. 624-633, 2001. DOI: 10.1109/TEST.2001.966682

タイトルに関連する用語 (3件)： スキャン ,  ポイント ,  選定