抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
マルチサイクルテストでは,キャプチャサイクル数の増加に伴い,時間展開により検査対象回路のテスタビリティが変化する.実用的には,検査対象回路のテスタビリティを改善するために,検査対象回路にTP(Test Point)を挿入するTPI(TP Insertion)技術が適用される.TP挿入によるテスタビリティの改善を見積もりするために,故障検出率推定手法が用いられる.一方,マルチサイクルテストにおいては時間展開による単一縮退故障の故障論理が時間的に多重化する問題があり,既存の組合せ回路における単一縮退故障を対象とした故障検出率推定手法を適用できない.本稿では,マルチサイクルテストにおける検査対象回路の時間展開回路に対する単一縮退故障の故障検出率推定手法を提案する.さらに,ベンチマーク回路を用いて,提案手法で求めた故障検出率の推定値と実故障シミュレーションで得られた故障検出率の相関性を評価する.評価実験結果から,提案手法によって算出した推定故障検出率の推移は,故障シミュレーションで求められた故障検出率の推移に類似することを確認できた.(著者抄録)