特許
J-GLOBAL ID:202103008814748512

結晶性高分子の劣化測定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (5件): 棚井 澄雄 ,  飯田 雅人 ,  西澤 和純 ,  鈴木 史朗 ,  土屋 亮
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-248326
公開番号(公開出願番号):特開2018-100943
特許番号:特許第6785002号
出願日: 2016年12月21日
公開日(公表日): 2018年06月28日
請求項(抜粋):
【請求項1】 結晶性高分子のラマンスペクトルを測定する工程と、 測定したラマンスペクトルと標準試料のラマンスペクトルとを比較し、前記結晶性高分子のラメラ構造における非晶相の一部が結晶化しようとする前駆現象に起因した所定のピークのピークシフトを測定する工程と、を有し、 前記結晶性高分子は、ポリオレフィンである、結晶性高分子の劣化測定方法。
IPC (1件):
G01N 21/65 ( 200 6.01)
FI (1件):
G01N 21/65
引用特許:
審査官引用 (4件)
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引用文献:
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