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J-GLOBAL ID:202202246898493373   整理番号:22A0197840

タングステン熱線触媒上で活性化したH2/O2混合物を用いた様々な濃度の光活性化合物によるノボラックフォトレジストの除去

Removal of Novolac Photoresist with Various Concentrations of Photo-active Compound Using H2/O2 Mixtures Activated on a Tungsten Hot-wire Catalyst
著者 (7件):
資料名:
巻: 34  号:ページ: 499-504(J-STAGE)  発行年: 2021年 
JST資料番号: U2132A  ISSN: 1349-6336  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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高温タングステンフィラメント上にHラジカルが生成する雰囲気中の少量のO2ガスを添加すると,i/g線に対するポジトーンノボラックフォトレジストのフォトレジスト除去率が改善することを以前報告した。本研究では,フォトレジストの除去に及ぼす光活性化合物(PAC)の影響を調べた。100sccmの水素ガス流に1.5sccmを超える酸素を添加すると,除去速度が低下した。純粋なノボラック樹脂では,樹脂の架橋が240°Cを超える温度でのこの低下の原因の1つになる可能性がある。PACによる除去速度は,240°Cを超えると純粋なノボラック樹脂よりもはるかに減少した。この除去速度の低下は,樹脂とPACの間だけでなく,樹脂間の架橋にも起因する可能性がある。OHラジカルは,そのような架橋を防ぐのに十分なHラジカルを生成することによりフォトレジストの除去に効果的に使用できる。(翻訳著者抄録)
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分類 (4件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
半導体の表面構造  ,  その他の光デバイス  ,  有機第6族・有機第7族元素化合物  ,  光化学反応,ラジカル反応 

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