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J-GLOBAL ID：202202260690587489   整理番号：22A0134826

マルチサイクルの機能動作による故障診断用パターン生成

Fault Diagnosis Pattern Generation by Function Operation under Multi-cycle

著者 (5件)： 神崎壽伯 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  WANG S. (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  甲斐博 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  高橋寛 (愛媛大 大学院理工学研究科)
資料名： 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)  (Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))
巻： 2021  ページ： ROMBUNNO.10-11  発行年： 2021年09月18日 
JST資料番号： L1738B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： 1.まえがき.微細化加工された集積回路においては,誤動作を引き起こす物理的な欠陥を特定する故障診断が困難になっている.高精度な故障診断の実現には,故障シミュレーションを行うことで被疑故障を区別できる診断用パターンを新たに生成するための生成ア...【本文一部表示】

シソーラス用語： アルゴリズム ,  集積回路 ,  加工時間 ,  *故障 ,  *故障診断 ,  故障検出 ,  組合せ回路 ,  テストパターン ,  組合せ論 ,  精密化 ,  誤動作 ,  高精度 ,  時間 ,  加工条件 ,  条件
準シソーラス用語： 故障シミュレーション ,  *パターン生成 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (4件)： マルチ ,  サイクル ,  故障診断 ,  パターン生成