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J-GLOBAL ID：202302219759816966   整理番号：23A0467580

マルチサイクルテストによるテストパターン削減

Test pattern reduction through multi-cycle testing

著者 (5件)： 中野潤平 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  WANG S. (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  甲斐博 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  高橋寛 (愛媛大 大学院理工学研究科)
資料名： 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)  (Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))
巻： 2022  ページ： ROMBUNNO.10-12  発行年： 2022年09月17日 
JST資料番号： L1738B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： 1.まえがき.半導体製造技術の微細化に伴って、LSIの大規模化によるテストコストの増加が問題となっている。そこで、テストパターンを削減することによって、テストコストの削減が期待できる。本研究では、マルチサイクルテストを利用することで、ATP...【本文一部表示】

シソーラス用語： LSI【IC】 ,  故障検出 ,  組合せ回路 ,  *テストパターン ,  回路 ,  組合せ論 ,  精密化 ,  2サイクル
準シソーラス用語： ATPG ,  半導体製造 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (1件)： テストパターン