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放射光計測は、材料の物性やデバイスの機能性を担う重要な因子を抽出するため行われてきた。本講演では、X線吸収微細構造(XAFS)スペクトルのベイズ分光法[1-3]による解析例と、リチウムイオン電池モデル電極で充電過程を捉えた2次元X線吸収スペ...【本文一部表示】