フェムト秒電子線回折によるBiFeO<sub>3</sub>/SrTiO<sub>3</sub>(111)薄膜の光誘起構造ダイナミクス測定

田久保耕; 上野俊輔; 金子水咲; YU H.; 石川忠彦; 沖本洋一; 腰原伸也; 小野淳; 西森亮太; 矢嶋渉; 羽田真毅; 桑原真人; 浅香透; 小澤慶太; 伊藤拓真; 重松圭; 重松圭; 東正樹; 東正樹

文献

J-GLOBAL ID：202302287241513430 整理番号：23A2520667

フェムト秒電子線回折によるBiFeO₃/SrTiO₃(111)薄膜の光誘起構造ダイナミクス測定

Photo-induced structural dynamics of BiFeO₃/SrTiO₃(111) thin film probed by the femto-second electron diffraction

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資料名：
巻： 78 号： 1 ページ： ROMBUNNO.22aE1-7 発行年： 2023年03月23日
JST資料番号： S0671C ISSN： 2189-079X 資料種別：会議録 (C)
記事区分：短報発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

BiFeO3は強誘電性と反強磁性が結合したマルチフェロイック材料として期待される物質である[1]。SrTiO3(111)基板上に成長したBiFeO3薄膜のフェムト秒レーザーによる第2高調波発生(SHG)の角度依存性およびそのポンププローブ分...【本文一部表示】

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強誘電体,反強誘電体,強弾性 , 酸化物結晶の磁性

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フェムト秒電子線回折によるBiFeO3/SrTiO3(111)薄膜の光誘起構造ダイナミクス測定

フェムト秒電子線回折によるBiFeO₃/SrTiO₃(111)薄膜の光誘起構造ダイナミクス測定