特許
J-GLOBAL ID:202303016862163736

トレンチMOS型ショットキーダイオード

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 弁理士法人平田国際特許事務所
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2017-034835
公開番号(公開出願番号):特開2022-087348
特許番号:特許第7291331号
出願日: 2017年02月27日
公開日(公表日): 2022年06月09日
請求項(抜粋):
【請求項1】 β型のGa2O3系単結晶からなる第1の半導体層と、 前記第1の半導体層に積層される層であって、その前記第1の半導体層と反対側の面に開口する複数のトレンチを有する、β型のGa2O3系単結晶からなる第2の半導体層と、 前記第2の半導体層の前記第1の半導体層と反対側の面上に形成されたアノード電極と、 前記第1の半導体層の前記第2の半導体層と反対側の面上に形成されたカソード電極と、 前記第2の半導体層の前記トレンチの内面を覆う絶縁膜と、 前記第2の半導体層の前記トレンチ内に前記絶縁膜に覆われるように埋め込まれ、前記アノード電極に接触するトレンチMOSゲートと、 を有し、 前記第2の半導体層が、前記第1の半導体層側の下層と、前記下層よりも高いドナー濃度を有する、前記アノード電極側の上層とから構成され、 1μAのリーク電流が流れるときの逆方向電圧が600V以上1200V以下である、 トレンチMOS型ショットキーダイオード。
IPC (3件):
H01L 29/872 ( 200 6.01) ,  H01L 29/47 ( 200 6.01) ,  H01L 29/06 ( 200 6.01)
FI (7件):
H01L 29/86 301 F ,  H01L 29/86 301 D ,  H01L 29/86 301 E ,  H01L 29/48 D ,  H01L 29/48 F ,  H01L 29/06 301 V ,  H01L 29/06 301 F
引用特許:
審査官引用 (5件)
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