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J-GLOBAL ID：202402295854841209   整理番号：24A2648253

SOI技術を用いた新型X線撮像分光器の開発64:周辺回路を内蔵した新型XR-PIXの開発と性能評価

著者 (18件)： 松橋裕洋 (東大) ,  馬場彩 (東大) ,  萩野浩一 (東大) ,  武田彩希 (宮崎大) ,  行元雅貴 (宮崎大) ,  森浩二 (宮崎大) ,  鶴剛 (京大) ,  松田真宗 (京大) ,  成田拓仁 (京大) ,  上林暉 (京大) ,  上村悠介 (京大) ,  田中孝明 (甲南大) ,  鈴木寛大 (ISAS/JAXA) ,  倉知郁生 (D&S) ,  幸村孝由 (東京理大) ,  内田悠介 (東京理大) ,  新井康夫 (KEK) ,  高柳武浩 (KEK)
資料名： 日本天文学会年会講演予稿集
巻： 2024  号： 秋季  ページ： 233  発行年： 2024年08月20日 
JST資料番号： S0300B  ISSN： 1347-0639  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： 次世代X線撮像分光衛星に搭載する予定のX線SOI-CMOS検出器「XRPIX」はSOI技術を用いてSiO2からなる絶縁層を挟みセンサ層とCMOS回路層を一体化した検出器である。XRPIXの時間分解能はトリガー機能を実装することで10μsec...【本文一部表示】

シソーラス用語： 雑音 ,  天文学 ,  電流 ,  二酸化ケイ素 ,  *X線スペクトロメータ ,  秋 ,  AD変換 ,  *撮像 ,  空乏層 ,  *SOI構造 ,  検出効率 ,  CMOS ,  *周辺回路 ,  CMOS集積回路 ,  閾値電圧
準シソーラス用語： *X線撮像分光器 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 天文学・天体物理学一般  (DB03000B)

タイトルに関連する用語 (6件)： SOI技術 ,  X線撮像分光器 ,  開発 ,  周辺回路 ,  XR ,  性能評価