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J-GLOBAL ID：202502227462219188   整理番号：25A0735228

X線天文衛星搭載用SOIピクセル検出器に対する放射線耐性の評価

Radiation Tolerance Evaluation of SOI pixel Detectors for X-ray Astronomy Satellites

著者 (34件)： 藤田紗弓 (東京理大) ,  志賀文哉 (東京理大) ,  幸村孝由 (東京理大) ,  内田悠介 (東京理大) ,  鶴剛 (京大 理) ,  内田裕之 (京大 理) ,  松田真宗 (京大 理) ,  成田拓仁 (京大 理) ,  上林暉 (京大 理) ,  上村悠介 (京大 理) ,  森浩二 (宮崎大 工) ,  武田彩希 (宮崎大 工) ,  西岡祐介 (宮崎大 工) ,  行元雅貴 (宮崎大 工) ,  木村明愉 (宮崎大 工) ,  塩川朝日 (宮崎大 工) ,  三谷美輝 (宮崎大 工) ,  角谷昂亮 (宮崎大 工) ,  鎌田信壱 (宮崎大 工) ,  黒木瑛介 (宮崎大 工) ,  齊藤悠人 (宮崎大 工) ,  佐々木悠任 (宮崎大 工) ,  渕田悠太 (宮崎大 工) ,  吉田大雅 (宮崎大 工) ,  信川久実子 (近大 理工) ,  岸本拓海 (近大 理工) ,  桑野慧 (近大 理工) ,  萩野浩一 (東大 理) ,  松橋裕洋 (東大 理) ,  鈴木寛大 (JAXA) ,  田中孝明 (甲南大 理工) ,  上ノ町水紀 (東工大 科創研) ,  新井康夫 (KEK) ,  倉知郁生 (D&S)
資料名： 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))
巻： 85th  ページ： ROMBUNNO.19a-D61-5  発行年： 2024年09月04日 
JST資料番号： Y0055B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： 我々は次世代X線天文衛星の搭載を目指しX線SOI検出器「XRPIX」の開発を進めている。XRPIXはSOI技術を用いて、センサー層(Si)・絶縁層(SiO2)・CMOS回路層が一体となった構造を持つ。XRPIXは、300μmの厚い空乏層を持...【本文一部表示】

シソーラス用語： 界面 ,  照射損傷 ,  半導体 ,  表面準位 ,  不純物 ,  二酸化ケイ素 ,  ドーピング ,  暗電流 ,  *画素 ,  空乏層 ,  *耐放射線性 ,  宇宙空間 ,  周波数帯
準シソーラス用語： TCAD ,  絶縁層 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 太陽電池  (NC03084O) ,  表面の電子構造  (BM02080J)

タイトルに関連する用語 (5件)： X線天文衛星 ,  SOI ,  ピクセル検出器 ,  放射線耐性 ,  評価