研究者
J-GLOBAL ID:200901006223135907   更新日: 2020年09月01日

三浦 克介

ミウラ カツヨシ | Miura Katsuyoshi
所属機関・部署:
職名: 准教授
研究分野 (2件): 電子デバイス、電子機器 ,  知能情報学
研究キーワード (3件): 集積システム診断学 ,  Intelligent Informatics ,  Election Devices and Apparatus Engineering
競争的資金等の研究課題 (4件):
  • 知的画像処理に関する研究
  • 集積回路のテスト
  • Study on Intelligent Image Processing
  • VLSI Testing
論文 (15件):
  • 鈴木恒陽, 三浦克介, 中前幸治. Arbiter PUF のNBTI/PBTI 経年劣化対策手法の比較検討. 第38回ナノテスティングシンポジウムNANOTS 2018会議録. 2018. 88-93
  • Koyo Suzuki, Katsuyoshi Miura, Koji Nakamae. NBTI/PBTI tolerant arbiter PUF circuits. 2017 IEEE 23rd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, IOLTS 2017. 2017. 80-84
  • Katsuyoshi. Miura, Yoshihiro. Midoh, Yasukazu. Murakami, Koji. Nakamae. Repair of discontinuous interference fringes in electron hologram by using the relaxation method. 2017
  • 三浦克介, 御堂義博, 村上恭和, 中前幸治. 弛緩法を用いた電子線ホログラム像の干渉縞欠損修復. 第64回応用物理学会春季学術講演会予稿集. 2017. 14p-424-9
  • 世古充樹, 三浦克介, 中前幸治. 閾値電圧ばらつきによるオフ電流発光変動考慮エミッション顕微鏡像シミュレーション. 第36回ナノテスティングシンポジウムNANOTS2016会議録. 2016. 167-172
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MISC (61件):
Works (6件):
  • 超LSI故障個所解析装置ソフトウェアの開発
    2010 -
  • 高速・高精度な超LSI故障個所解析装置用診断支援手法の開発
    2010 -
  • 超LSI故障個所解析装置ソフトウェアの開発
    2009 -
  • 高速・高精度な超LSI故障個所解析装置用診断支援手法の開発
    2009 -
  • 超LSI故障個所解析装置
    2009 -
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学歴 (4件):
  • - 1994 大阪大学 工学研究科 電子工学
  • - 1994 大阪大学
  • - 1992 大阪大学 工学部 電子工学
  • - 1992 大阪大学
学位 (2件):
  • 工学修士 (大阪大学)
  • 工学博士 (大阪大学)
経歴 (4件):
  • 2007 - - 大阪大学 准教授
  • 2007 - 大阪大学 助教授
  • 2007 - - Associate Professor, Osaka University
  • 2007 - Associate Professor, Osaka University
委員歴 (2件):
  • 2008 - LSIテスティング学会 事務局
  • 2008 - The Institute of LSI Testing Secretariat
受賞 (3件):
  • 2007 - CADuser ML Best Contributor Award
  • 2007 - CADuser ML Best Contributor Award
  • 1998 - 1997年電子情報通信学会 総合大会 学術奨励賞
所属学会 (4件):
LSIテスティング学会 ,  IEEE ,  電子情報通信学会 ,  The Institute of LSI Testing
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