研究者
J-GLOBAL ID:200901042171408230
更新日: 2022年08月15日
横山 洋之
ヨコヤマ ヒロシ | Yokoyama Hiroshi
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所属機関・部署:
秋田大学 情報統括センター
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職名:
准教授
その他の所属(所属・部署名・職名) (1件):
秋田大学理工学研究科
非常勤
ホームページURL (1件):
http://www.fts.ie.akita-u.ac.jp/~yokoyama/
研究分野 (3件):
情報ネットワーク
, 計算機システム
, 情報学基礎論
研究キーワード (3件):
VLSI故障検査
, ディペンダブルシステム
, Information Science
競争的資金等の研究課題 (4件):
画像処理に関する研究
論理回路のテストに関する研究
Image Processing
Study on Testing for Logic Circuits
MISC (8件):
部分二重化とIDDQテストによる論理回路のランダムテスト容易化手法(共著). 電子情報通信学会論文誌(D-I). 1998. J81-D-I. 6. 851-860
横山 洋之, 温 暁青, 玉本 英夫. 部分2重化とI_<DDQ>テストによる論理回路のランダムテスト容易化手法. 電子情報通信学会論文誌. D-1, 情報・システム 1-コンピュータ. 1998. J81-D-I. 6. 851-860
遺伝的アルゴリズムを用いた組込み型多重重み付けランダムテストの最適化手法(共著). 電子情報通信学会論文誌(D-I). 1996. J79-D-2. 12. 1083-1091
Built-In Multiple Weighted Random Testing based on Genetic Algorithms. The transactions of the institue of electronics, information and communication engineers D-I. 1996. J79-D-2. 12. 1083-1091
CMOS論理回路のランダムパターンによる組込み電流テスト. 電子情報通信学会論文誌D-I. 1993. J76-D1. 10. 522-530
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学歴 (4件):
- 1993 秋田大学 鉱山学研究科 電子工学
- 1993 秋田大学
- 1989 秋田大学 鉱山学部 電子工学科
- 1989 秋田大学
学位 (2件):
工学修士 (秋田大学)
博士(工学) (東京大学)
所属学会 (2件):
IEEE.Computer Society
, 電子情報通信学会
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