藤居義和

フジイヨシカズ | Fujii Yoshikazu

所属機関・部署：
職名：准教授

研究分野 (1件)：数理物理、物性基礎

研究キーワード (4件)：機器分析 , 材料分析 , イオン・放射線物理 , X線・粒子線応用工学

競争的資金等の研究課題 (11件)：

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論文 (70件)：

MISC (40件)：

Yoshikazu Fujii. Recent Developments in the X-ray Reflectivity Analysis. American Journal of Physics and Applications. 2016. 4. 2. 27-49
Yoshikazu Fujii. Recent Developments in the X-Ray Reflectivity Analysis for Rough Surfaces and Interfaces of Multilayered Thin Film Materials. Journal of Materials. 2013. Article ID 678361. 2013. 1-20
藤居義和. X線反射率解析における問題点とその改良. X線分析の進歩. 2012. 43. 103-126
藤居義和. 微小角入射X線散乱法を利用した薄膜表面層構造評価. まてりあ. 2009. 第9号
藤居義和. 色即是空による量子力学談話. 大学の物理教育. 2009. 15(2), 445-451

特許 (2件)：

書籍 (4件)：

Top 5 Contributions in Materials Science (Chapter 2: Recent Developments in the X-ray Reflectivity Analysis for Rough Surfaces and Interfaces of Multilayered Thin Film Materials)
Avid Science 2019
X-Ray Scattering
Nova Science Publishers, Inc. 2011
表面・界面分析の基礎と応用
日本表面科学会 2009
表面・界面分析の基礎と応用
日本表面科学会 2008

講演・口頭発表等 (30件)：

チタン合金の液体分離
(日本学術振興会合金状態図172委員会・第34回研究会 2018)
New investigation method on surface roughness correlation function with the use of X-ray reflectivity
(11th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ’17 2017)
Microstructure of Ti-Nb-Ag Immiscible Alloys with Liquid Phase Separation
(60th Memorial Symposium of the Japanese Society of Microscopy 2017)
Analysis of the Surface Roughness Correlation Function by X-ray Reflectivity
(7th International Symposium on Control of Semiconductor Interfaces 2016)
Analysis of surface roughness correlation function by X-ray reflectivity
(10th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ’15 2015)

学歴 (1件)：

学位 (2件)：

委員歴 (5件)：

所属学会 (8件)：

日本分析化学会 , ナノ学会 , 日本真空協会 , 日本表面科学会 , 日本放射光学会 , 日本結晶学会 , 日本物理学会 , 応用物理学会

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藤居 義和