研究者
J-GLOBAL ID：201001083637797737   更新日: 2024年11月09日

清水 康雄

シミズ ヤスオ | Shimizu Yasuo
所属機関・部署：
ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社

ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 について


ホームページURL (1件)： https://scholar.google.com/citations?user=fypcITMAAAAJ&hl=ja
研究分野 (5件)： ナノバイオサイエンス ,  ナノ材料科学 ,  生体材料学 ,  生体医工学 ,  電気電子材料工学
研究キーワード (10件)： 自己拡散 ,  集束イオンビーム ,  太陽電池 ,  鉄鋼材料 ,  水素 ,  同位体 ,  生体材料 ,  格子欠陥 ,  陽電子消滅 ,  3次元アトムプローブ
競争的資金等の研究課題 (16件)：
  • 2020 - 2023 サブナノ分解能応力下その場観察法の開拓による新たな照射硬化機構の解明
  • 2018 - 2023 決定論的ドーピング法に基づく量子物性制御とその確率的情報処理・量子計測への応用
  • 2018 - 2022 革新炉材料開発のための次世代ナノスケール解析法の開発と照射後実験研究の国際ハブの構築
  • 2020 - 2021 高効率発光デバイスの実現に向けた共添加元素の3次元原子スケール分布の制御
  • 2018 - 2019 フレキシブル・超軽量SHJ太陽電池およびタンデム化の要素技術の開発
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論文 (115件)：
  • Shota Ishimi, Makoto Hirose, Yasuo Shimizu, Yutaka Ohno, Yasuyoshi Nagai, Jianbo Liang, Naoteru Shigekawa. Fabrication and Electrical Characterization of GaAs/GaN Junctions. ECS Transactions. 2023. 112. 3. 111-118
  • Kazuki Sawai, Jianbo Liang, Yasuo Shimizu, Yutaka Ohno, Yasuyoshi Nagai, Naoteru Shigekawa. Characterization of Ga-face/Ga-face and N-face/N-face interfaces with antiparallel polarizations fabricated by surface-activated bonding of freestanding GaN wafers. Japanese Journal of Applied Physics. 2023. 62. SN. SN1013-SN1013
  • Ayaka Kobayashi, Hazuki Tomiyama, Yutaka Ohno, Yasuo Shimizu, Yasuyoshi Nagai, Naoteru Shigekawa, Jianbo Liang. Room-temperature bonding of GaN and diamond via a SiC layer. Functional Diamond. 2022. 2. 1. 142-150
  • Yutaka Ohno, Jianbo Liang, Hideto Yoshida, Yasuo Shimizu, Yasuyoshi Nagai, Naoteru Shigekawa. Variation in atomistic structure due to annealing at diamond/silicon heterointerfaces fabricated by surface activated bonding. Japanese Journal of Applied Physics. 2022. 61. SF. SF1006/1-SF1006/5
  • Jianbo Liang, Daiki Takatsuki, Masataka Higashiwaki, Yasuo Shimizu, Yutaka Ohno, Yasuyoshi Nagai, Naoteru Shigekawa. Fabrication of β-Ga2O3/Si heterointerface and characterization of interfacial structures for high-power device applications. Japanese Journal of Applied Physics. 2022. 61. SF. SF1001/1-SF1001/7
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MISC (19件)：
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特許 (2件)：
書籍 (1件)：
  • 試料分析講座 半導体・電子材料分析(日本分析化学会編)
    丸善出版 2013 ISBN:9784621087008
講演・口頭発表等 (307件)：
  • Hydrogen detection in high-performance Si solar cells by atom probe tomography
    (14th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices’22 (ALC’22) 2022)
  • Fabrication of high-thermal-stability GaN/diamond junctions via intermediate layers
    (Conference on Wafer Bonding for Microsystems, 3D- and Wafer Level Integration (WaferBond'22) 2022)
  • 3次元アトムプローブによるフェライト鋼中のナノ析出物における水素トラップの可視化と水素トラップ能に及ぼす析出物サイズの影響
    (日本金属学会2022年秋期(第171回)講演大会 2022)
  • 表面活性化接合法によるGaN/GaN接合界面の評価
    (第83回応用物理学会秋季学術講演会 2022)
  • Electrical properties in wafer-bonding-based GaAs/GaN junctions on free-standing substrates
    (14th Topical Workshop on Heterostructure Microelectronics (TWHM2022) 2022)
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学歴 (2件)：
  • 2004 - 2009 慶應義塾大学 大学院理工学研究科 基礎理工学専攻
  • 2000 - 2004 慶應義塾大学 理工学部 物理情報工学科
学位 (1件)：
  • 博士(工学) (慶應義塾大学)
経歴 (7件)：
  • 2021/12 - 現在 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社
  • 2020/05 - 2021/11 物質・材料研究機構 NIMS特別研究員
  • 2020/04 - 2020/04 東北大学 金属材料研究所 学術研究員
  • 2010/04 - 2020/03 東北大学 金属材料研究所 材料照射工学研究部門 助教
  • 2008/04 - 2010/03 日本学術振興会 特別研究員DC2/PD
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委員歴 (6件)：
  • 2023/04 - 現在 システムデバイスロードマップ (計測WG)
  • 2017/05 - 2021/11 SIMS国際シンポジウム 幹事会委員、SISS-20実行委員長
  • 2017/04 - 2021/11 システムデバイスロードマップ (計測WG)
  • 2018/10 - 2019/10 22nd International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry Program Committee
  • 2016/06 - 2017/07 29th International Conference on Defects in Semiconductors Local Program Sub-Committee (Materials Characterization)
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受賞 (10件)：
  • 2024/03 - 応用物理学会 第45回応用物理学会優秀論文賞 Insight into segregation sites for oxygen impurities at grain boundaries in silicon
  • 2021/10 - 7th International Workshop on Low Temperature Bonding for 3D Integration Best Short Presentation Award Fabrication of GaN/SiC/diamond structure for efficient thermal management of power device
  • 2021/10 - 7th International Workshop on Low Temperature Bonding for 3D Integration Best Presentation Award Fabrication of Ga<SUB>2</SUB>O<SUB>3</SUB>/Si direct bonding interface for high power device applications
  • 2017/04/01 - Japan Society of Applied Physics JSAP Poster Award Atom probe tomographic study on implanted deuterium in Al<SUB>2</SUB>O<SUB>3</SUB>/Hf<SUB>x</SUB>Si<SUB>1-x</SUB>O<SUB>2</SUB>/SiO<SUB>2</SUB> Stacks
  • 2016/06 - International Field Emission Society APT&M2016 Best Poster Award Atom probe tomographic study of human tooth materials
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所属学会 (1件)：
応用物理学会
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