森良弘

モリヨシヒロ | Mori Yoshihiro

所属機関・部署：
職名：教授

研究分野 (2件)：経営学 , 分析化学

研究キーワード (3件)：イノベーション・マネジメント , 技術経営 , 標準化

競争的資金等の研究課題 (2件)：

論文 (26件)：

Tsugufumi Matsuyama, Yudai Tanaka, Yoshihiro Mori, Kouichi Tsuji. High-accuracy total reflection X-ray fluorescence analysis for determining trace elements using substrate cleaned by ammonia-hydrogen peroxide mixture. Talanta. 2023. 265. 124808-124808
森良弘, 北寿郎. 新技術に対する技術者の認知バイアスに関する研究. BMAジャーナル. 2021. 21. 1. 15-29
Hikari Takahara, Yoshihiro Mori, Harumi Shibata, Ayako Shimazaki, Mohammad B. Shabani, Motoyuki Yamagami, Norikuni Yabumoto, Kazuo Nishihagi, Yohichi Gohshi. Vapor phase treatment-total reflection X-ray fluorescence for trace elemental analysis of silicon wafer surface. Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy. 2013. 90. 72-82
Hikari Takahara, Yoshihiro Mori, Ayako Shimazaki, Yohichi Gohshi. Method and mechanism of vapor phase treatment-total reflection X-ray fluorescence for trace element analysis on silicon wafer surface. Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy. 2010. 65. 12. 1022-1028
Yoshihiro Mori, Kenichi Uemura, Hiroshi Kohno, Motoyuki Yamagami, Yoshinori Iizuka. Sweeping-TXRF: A nondestructive technique for the entire surface characterization of metal contaminations on semiconductor wafers. IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing. 2005. 18. 4. 569-573

MISC (19件)：

森良弘. なんでそんな安い価格で売るの?. 同志社ビジネスケース 24-1. 2024
森良弘. 10人の会社が自社ブランドで半導体業界に挑む - 有限会社NAS技研 -. 同志社ビジネスケース 23-01. 2024
森良弘. 研究者をたずねて技術者の『認知バイアス』を解明しビジネスを成功に導くイノベーションマネジメント. 同志社大学リエゾンオフィスニューズレター LIAISON. 2023. 70. 13-14
森良弘. 分析化学から経営学へ. ぶんせき. 2023. 8. 330
Yoshihiro Mori, Toshiro Kita. IMPACT OF COGNITIVE BIASES IN TECHNOLOGICAL DECISION-MAKING. Proceedings of 23rd CINet Conference. 2022. 371-380

特許 (73件)：

書籍 (6件)：

講演・口頭発表等 (20件)：

学歴 (4件)：

学位 (3件)：

経歴 (11件)：

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委員歴 (17件)：

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受賞 (4件)：

2007/07 - Siltronic Inventor Award 2007 "Most active inventor"
2006/12 - Semiconductor Equipment and Materials Institute (SEMI) Technical Committee Award 2006 "Outstanding achievement in the advancement of SEMI International Standards"
2004/09 - ISSM2004 Best Paper Award "Sweeping-TXRF: A Nondestructive Technique for the Entire-Surface Characterization of Metal Contaminations on Semiconductor Wafers"
2002/09 - 日本分析化学会奨励賞 "全反射蛍光X線分析用シリコンウェーハ標準試料の開発と応用"

所属学会 (5件)：

研究イノベーション学会 , 組織学会 , 日本ビジネスモデル学会 , 応用物理学会 , 日本分析化学会

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森 良弘