多重故障に関するBIST後の故障診断

TAKAHASHI Hiroshi; HIGAMI Yoshinobu; KADOYAMA Shuhei; TAKAMATSU Yuzo; YAMAZAKI Koji; AIKYO Takashi; SATO Yasuo

文献

J-GLOBAL ID：200902295164410589 整理番号：08A0224655

多重故障に関するBIST後の故障診断

Post-BIST Fault Diagnosis for Multiple Faults

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資料名：
巻： E91-D 号： 3 ページ： 771-775 発行年： 2008年03月01日
JST資料番号： L1371A ISSN： 0916-8532 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：英語 (EN)

LSIの複雑性が増大する中で,内蔵自己テスト(BIST)は製品テストの有望な技術である。ここでは,BISTからの圧縮された応答に基づいて多重縮退故障を診断する手法を提案した。BISTの圧縮された応答を用いて得られたあいまいなテストパターンセットに基づく故障診断を”ポストBIST故障診断”と呼ぶ。具体的には,多重縮退故障に関するポストBIST故障診断を実行するための効率的な手法を示した。また,成功率の有効性や大規模回路診断の可能性を論じた。(翻訳著者抄録)

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ディジタル計算機ハードウェア一般

引用文献 (6件)：

TAKAHASHI, H. BIST based diagnosis using ambiguous test set. Proc. 18th Int. Symp. Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, Oct. 2003. 2003, 89-96
TAKAHASHI, H. Effective post-BIST fault diagnosis for multiple faults. Proc. 21st Int. Symp. Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, Oct. 2006. 2006, 401-409
DASTIDAR, J. G. Fault diagnosis in scan-based BIST using both time and space information. Proc. Int. Test Conf., Sept. 1999. 1999, 95-102
WEN, X. On per-test fault diagnosis using the X-fault model. Proc. Int. Conf. on Computer-Aided Design, Nov. 2004. 2004, 633-640
SATO, Y. Invisible delay quality-SDQM model lights up what could not be seen. Proc. Int. Test Conf, Oct. 2005. 2005

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