Pass/Fail情報の利用による多重故障モデルにおける故障診断

TAKAMATSU Yuzo; TAKAHASHI Hiroshi; HIGAMI Yoshinobu; AIKYO Takashi; YAMAZAKI Koji

文献

J-GLOBAL ID：200902283287978590 整理番号：08A0224643

Pass/Fail情報の利用による多重故障モデルにおける故障診断

Fault Diagnosis on Multiple Fault Models by Using Pass/Fail Information

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資料名：
巻： E91-D 号： 3 ページ： 675-682 発行年： 2008年03月01日
JST資料番号： L1371A ISSN： 0916-8532 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：英語 (EN)

一般に,我々は,診断を始める前には,どの故障モデルがテスト対象回路における一次出力の不良値の原因を説明することができるかは分からない。さらに,組込み自己テスト(BIST)環境の下では,不合格テストパターンの適用に対してどの一次出力が不良値をもつかを知ることも難しい。本稿では,適用テストパターンについてのPass/Fail情報だけに基づいて,多重故障モデルにおける効果的診断手法を提案する。提案手法は,合格および不合格となるテストパターンの両方により単一縮退故障シミュレーションを行うことにより,各ラインにおける単一縮退故障に対する検出の数に基づいて故障モデルと故障位置の両方を推論する。故障診断の能力を改善するために,我々の手法は,ラインの論理値と,合格および不合格となるテストパターンによりラインで縮退故障が検出されるか否かの条件とを用いる。実験結果は,我々の手法は,90%の故障回路に対して故障モデル(縮退故障モデル,AND/ORブリッジ故障モデル,支配型ブリッジ故障モデル,あるいは,オープン故障モデル)を正確に同定することができ,また,故障個所は2つの候補故障以内に突き止められるということを示した。(翻訳著者抄録)

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固体デバイス計測・試験・信頼性

引用文献 (10件)：

DASTIDAR, J. G. Fault diagnosis in scan-based BIST using both time and space information. Proc. Int. Test Conf., 1999. 1999, 95-102
JEE, A. Carafe : An inductive fault analysis tool for CMOS VLSI circuits. Proc. VLSI Test Symp., 1993. 1993, 92-98
LAVO, D. B. Multiplets, models, and the search for meaning improving per-test fault diagnosis. Proc. Int. Test Conf., 2002. 2002, 250-259
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WANG, Z. An efficient and effective methodology on the multiple fault diagnosis. Proc. Int. Test Conf., 2003. 2003, 329-338

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