研究者
J-GLOBAL ID：200901029310118083   更新日: 2024年02月14日

鈴木 秀士

スズキ シュウシ | Suzuki Shushi
所属機関・部署：
名古屋大学 大学院工学研究科 応用物質化学専攻 応用物理化学

名古屋大学 大学院工学研究科 応用物質化学専攻 応用物理化学 について


職名： 准教授
ホームページURL (1件)： http://kenpro.mynu.jp:8001/Profiles/0062/0006209/prof_e.html
研究分野 (9件)： 薄膜、表面界面物性 ,  電子デバイス、電子機器 ,  無機・錯体化学 ,  基礎物理化学 ,  ナノマイクロシステム ,  ナノバイオサイエンス ,  ナノ材料科学 ,  ナノ構造物理 ,  ナノ構造化学
研究キーワード (6件)： 放射光 ,  走査プローブ顕微鏡 ,  ナノ構造体 ,  ナノ粒子 ,  界面 ,  表面
競争的資金等の研究課題 (12件)：
  • 2019 - 2021 表面ナノ元素分布計測のための放射光X線-原子間力顕微鏡の開発
  • 2013 - 2016 X線支援原子間力顕微鏡XANAMの量子干渉効果に基づく理解
  • 2011 - 2012 TiO2ナノ粒子の高融点人工氷晶核への応用
  • 2002 - 2009 新型実験室用XPEEM装置の開発
  • 2008 - 2009 酸化物表面欠陥によるナノクラスターの制御と触媒作用
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論文 (83件)：
  • S. Suzuki, S. Mukai, W.-J. Chun, M. Nomura, S. Fujimori, M. Ikeda, K. Makihara, S. Miyazaki, K. Asakura. Surface elemental imaging of Ge quantum dots on a Si surface by XANAM. Photon Factory Activity Report 2016. 2020. 37B. in press.
  • S. Suzuki, A. Morimoto, S. Kuwabata, T. Torimoto. Shape-controlled synthesis of Cu2O nanoparticles with single-digit nanoscale void space via ionic liquid/metal sputtering and their photoelectrochemical properties. Jpn. J. Appl. Phys. 2020. accepted
  • S. Suzuki, S. Mukai, W.-J. Chun, M. Nomura, S. Fujimori, M. Ikeda, K. Makihara, S. Miyazaki, K. Asakura. Application of surface chemical imaging by XANAM to Ge surfaces. Proceedings of 8th International Symposium on Control of Semiconductor Interfaces (ISCSI-VIII). 2019. 111-112
  • S. Suzuki, S. Mukai, W.-J. Chun, M. Nomura, S. Fujimori, M. Ikeda, K. Makihara, S. Miyazaki, K. Asakura. XANAM measurements on Ge surfaces for surface chemical imaging. Proceedings of 12th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '19 (ALC'19). 2019. 87-89
  • S. Suzuki, S. Mukai, W.-J. Chun, M. Nomura, K. Asakura. Analysis of Incident X-ray Energy Influence on the Tip-Surface Force on the Ge Surface by XANAM. Photon Factory Activity Report 2016. 2019. 36B. 248
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MISC (73件)：
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特許 (2件)：
書籍 (6件)：
  • X線支援非接触原子間力顕微鏡
    朝倉書店 2020
  • "X-ray Aided Noncontact Atomic force microscopy(XANAM)" in "Encyclopedia of Surface Analysis"
    Springer 2017
  • 金属酸化物表面における金属-担体相互作用の解明に関する研究
    表面科学 2009
  • Development of a novel elemental analysis method based on NC-AFM in combination with SR X-rays
    Part A Highlights in Photon Factory Activity Report 2007 2008
  • 分子vs表面 綱引きの勝敗はどっち? -メカノケミカル反応と熱反応の違いの理論的研究-
    化学 2008
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講演・口頭発表等 (61件)：
  • Ge 量子ドット像のXANAM によるX 線エネルギー依存性測定
    (第67回応用物理学会春季学術講演会 2020)
  • NC-AFMとの融合によるGe表面の局所X線元素分析
    (第33回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム 2020)
  • Application of surface chemical imaging by XANAM to Ge surfaces
    (8th International Symposium on Control of Semiconductor Interfaces (ISCSI-VIII) 2019)
  • X線支援非接触原子間力顕微鏡(XANAM)によるGe表面の力イメージング
    (2019年日本表面真空学会学術講演会 2019)
  • XANAM measurements on Ge surfaces for surface chemical imaging
    (12th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '19 in conjunction with the 22nd International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS XXII) 2019)
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Works (1件)：
  • 原子像の観察と元素分析を同時に実行, AFMと放射光を併用する技術を確認
    2003 -
学歴 (1件)：
  • 1995 - 1999 東京大学 理学系研究科 化学専攻
学位 (1件)：
  • 博士(理学) (東京大学)
経歴 (3件)：
  • 2017/04/01 - 現在 名古屋大学 大学院工学研究科 応用物質化学専攻 応用物理化学 准教授
  • 2017/04/01 - 現在 名古屋大学 大学院工学研究科 応用物質化学専攻 准教授
  • 2009/04/01 - 2017/03/31 名古屋大学 大学院工学研究科 結晶材料工学専攻 准教授
委員歴 (10件)：
  • 2020 - 現在 応用物理学会「量子ビームによる表面界面の光機能探究研究会」研究会 常任幹事 常任委員
  • 2014 - 現在 応用物理学会「埋もれた界面のX線・中性子解析」研究会 常任幹事 常任委員
  • 2017 - 2019 応用物理学会 学術討論会プログラム編成会委員 学術討論会プログラム編成会委員
  • 2014 - 2015 触媒学会 西日本支部幹事 委員
  • 2014 - 2015 日本化学会 東海支部化学教育協議会委員 委員
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受賞 (2件)：
  • 2015/07/31 - 日本学術振興会 平成27年度特別研究員等審査会専門委員(書面担当)表彰
  • 2008/03/27 - 日本化学会 日本化学会 第57回進歩賞「元素分析走査プローブ顕微鏡の開発」
所属学会 (9件)：
量子ビームによる表面界面の光機能探究研究会 ,  日本物理学会 ,  埋もれた界面のX線・中性子解析研究会 ,  日本放射光学会 ,  触媒学会 ,  日本XAFS研究会 ,  日本表面科学会 ,  日本化学会 ,  日本応用物理学会
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