研究者
J-GLOBAL ID:200901065446199520
更新日: 2021年10月21日
大竹 浩人
オオタケ ヒロト | Ohtake Hiroto
所属機関・部署:
旧所属 東北大学 流体科学研究所 附属流体融合研究センター
旧所属 東北大学 流体科学研究所 附属流体融合研究センター について
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職名:
講師
MISC (26件):
Shigeo Yasuhara, Juhyun Chung, Kunitoshi Tajima, Hisashi Yano, Shingo Kadomura, Masaki Yoshimaru, Noriaki Matsunaga, Tomohiro Kubota, Hiroto Ohtake, Seiji Samukawa. Structure-designable method to form super low-k SiOC film (k=2.2) by neutral-beam-enhanced chemical vapour deposition. JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS. 2009. 42. 5. 055208-1-055208-7
Shigeo Yasuhara, Juhyun Chung, Kunitoshi Tajima, Hisashi Yano, Shingo Kadomura, Masaki Yoshimaru, Noriaki Matsunaga, Tomohiro Kubota, Hiroto Ohtake, Seiji Samukawa. Structure-designable method to form super low-k SiOC film (k=2.2) by neutral-beam-enhanced chemical vapour deposition. JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS. 2009. 42. 5. 055208-1-055208-7
Michio Sato, Hiroto Ohtake, Koichi Suzuki, Seiji Samukawa. Real-time monitoring of successive sparks in high-density plasma chambers. JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY A. 2007. 25. 6. 1594-1598
Butsurin Jinnai, Toshiyuki Orita, Mamoru Konishi, Jun Hashimoto, Yoshinari Ichihashi, Akito Nishitani, Shingo Kadomura, Hiroto Ohtake, Seiji Samukawa. On-wafer monitoring of charge accumulation and sidewall conductivity in high-aspect-ratio contact holes during SiO2 etching process. JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B. 2007. 25. 6. 1808-1813
Michio Sato, Hiroto Ohtake, Koichi Suzuki, Seiji Samukawa. Real-time monitoring of successive sparks in high-density plasma chambers. JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY A. 2007. 25. 6. 1594-1598
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委員歴 (3件):
2007 - 2007 The international symposium on AFI/TFI 2007 実行委員
2007 - The international conference on Solid State Devices and Materials 実行委員
2004 - ドライプロセスシンポジウム国際学会 論文委員
所属学会 (4件):
The international conference on Solid State Devices and Materials
, The international symposium on AFI/TFI 2007
, ドライプロセスシンポジウム国際学会
, 応用物理学会
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