研究者
J-GLOBAL ID:200901077451081803   更新日: 2022年09月13日

関 節子

セキ セツコ | Seki Setsuko
所属機関・部署:
職名: 教授
研究分野 (1件): 薄膜、表面界面物性
研究キーワード (4件): マイクロビーム応用技術 ,  表面物性 ,  micro-beam technology ,  Surface characterization
競争的資金等の研究課題 (9件):
  • 2006 - SIMSの極微小部分析
  • 2001 - 走査型二次イオン像観察装置の開発
  • 2001 - Development of observation equipment for Scanning Secondary Ion Image
  • 1997 - 1999 SIMSにおける高感度測定の研究
  • 1997 - 1999 Study of highly sensitive measurement for SIMS
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MISC (67件):
特許 (2件):
  • 二次イオン質量分析法による試料の深さ方向濃度分布測定方法
  • 多機能試料表面分析装置
書籍 (1件):
  • 二次イオン質量分析法(分担)
    丸善 1999
講演・口頭発表等 (22件):
  • Quantification on Micr-area Analysis in SIMS
    (7th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices 2009)
  • Depth profiling of micro-order area by mesa-structure fabrication
    (The 17th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry 2009)
  • メサ構造化によるSIMS微小部分析
    (第28回表面科学学術講演会 2008)
  • 微小メサ試料のSIMS深さ分析における濃度決定
    (応用物理学会学術講演会 2008)
  • Micro-area analysis in SIMS depth profiling by mesa-structure preparation
    (The 16th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry 2007)
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Works (4件):
  • 走査型二次イオン像観察装置の開発
    2001 -
  • Development of the observation equipment for the scanning secondary ion image
    2001 -
  • 超微細加工用イオン源の開発
    1998 -
  • Development of the focused ion source for hyperfine processing
    1998 -
学歴 (4件):
  • - 1977 東京大学 理学系研究科 物理化学
  • - 1977 東京大学
  • - 1971 東京大学 教養学部 基礎科学
  • - 1971 東京大学
学位 (3件):
  • 理学博士 (東京大学)
  • 理学修士 (東京大学)
  • (BLANK)
経歴 (9件):
  • 1991 - 1998 拓殖大学 助教授
  • 1991 - 1998 拓殖大学
  • 1998 - - 拓殖大学 教授
  • 1998 - - Takushoku University, professor
  • 1987 - 1991 拓殖大学 講師
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委員歴 (1件):
  • 1993 - 1996 表面科学会 評議員
所属学会 (4件):
粒子線技術開発研究会 ,  質量分析学会 ,  表面科学会 ,  応用物理学会
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