研究者
J-GLOBAL ID:200901077451081803
更新日: 2022年09月13日
関 節子
セキ セツコ | Seki Setsuko
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所属機関・部署:
拓殖大学 工学部 共通教養系 基礎教育系列
拓殖大学 工学部 共通教養系 基礎教育系列 について
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職名:
教授
研究分野 (1件):
薄膜、表面界面物性
研究キーワード (4件):
マイクロビーム応用技術
, 表面物性
, micro-beam technology
, Surface characterization
競争的資金等の研究課題 (9件):
2006 - SIMSの極微小部分析
2001 - 走査型二次イオン像観察装置の開発
2001 - Development of observation equipment for Scanning Secondary Ion Image
1997 - 1999 SIMSにおける高感度測定の研究
1997 - 1999 Study of highly sensitive measurement for SIMS
1992 - 1999 SIMS-ESDMS複合技法による表面分析
1992 - 1999 Surface analysis by a combined SIMS-ESDMS technique
1998 - 微細加工用イオン源の開発
1998 - Development of focused ion beam
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MISC (67件):
Setsuko Seki, Hifumi Tamura. Quantification of micro-area analysis in SIMS. SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS. 2010. 42. 10-11. 1585-1588
S. Seki, H. Tamura, Y. Wada, K. Tsutsui, S. Ootomo. Micro-area analysis in SIMS depth profiling by mesa-structure preparation. APPLIED SURFACE SCIENCE. 2008. 255. 4. 1373-1376
関節子, 田村一二三. SIMSの極微小部分析に向けて. 拓殖大学理工学研究報告. 2008. 10. 2. 55
関節子, 田村一二三. SIMSの微小部深さ方向分析におけるドーパント濃度決定法. 拓殖大学理工学研究報告. 2007. 10. 1. 41
関節子, 田村一二三. 正負二次イオン像同時観察装置の開発. 拓殖大学理工学研究報告. 2005. 9. 3. 67
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特許 (2件):
二次イオン質量分析法による試料の深さ方向濃度分布測定方法
多機能試料表面分析装置
書籍 (1件):
二次イオン質量分析法(分担)
丸善 1999
講演・口頭発表等 (22件):
Quantification on Micr-area Analysis in SIMS
(7th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices 2009)
Depth profiling of micro-order area by mesa-structure fabrication
(The 17th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry 2009)
メサ構造化によるSIMS微小部分析
(第28回表面科学学術講演会 2008)
微小メサ試料のSIMS深さ分析における濃度決定
(応用物理学会学術講演会 2008)
Micro-area analysis in SIMS depth profiling by mesa-structure preparation
(The 16th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry 2007)
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Works (4件):
走査型二次イオン像観察装置の開発
2001 -
Development of the observation equipment for the scanning secondary ion image
2001 -
超微細加工用イオン源の開発
1998 -
Development of the focused ion source for hyperfine processing
1998 -
学歴 (4件):
- 1977 東京大学 理学系研究科 物理化学
- 1977 東京大学
- 1971 東京大学 教養学部 基礎科学
- 1971 東京大学
学位 (3件):
理学博士 (東京大学)
理学修士 (東京大学)
(BLANK)
経歴 (9件):
1991 - 1998 拓殖大学 助教授
1991 - 1998 拓殖大学
1998 - - 拓殖大学 教授
1998 - - Takushoku University, professor
1987 - 1991 拓殖大学 講師
1987 - 1991 拓殖大学
1977 - 1987 (株)日立製作所中央研究所 研究員
1977 - 1987 Hitachi, Ltd, Central Research Laboratory,
researcher
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委員歴 (1件):
1993 - 1996 表面科学会 評議員
所属学会 (4件):
粒子線技術開発研究会
, 質量分析学会
, 表面科学会
, 応用物理学会
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