研究者
J-GLOBAL ID:200901079844608679   更新日: 2024年02月01日

小松 聡

コマツ サトシ | KOMATSU Satoshi
所属機関・部署:
職名: 教授
ホームページURL (1件): http://www.epi.dendai.ac.jp/
研究分野 (2件): 計算機システム ,  電子デバイス、電子機器
研究キーワード (6件): VLSIテスト ,  集積回路設計 ,  集積回路設計, VLSIテスト ,  VLSI設計工学 ,  Low Power Design ,  VLSI design
競争的資金等の研究課題 (13件):
  • 2022 - VLSI自動設計技術を応用したMEMS-CMOS混載センサシステムの協調設計技術
  • 2018 - 2021 オンチップ信号観測システムの自動生成によるSoCのデバッグ支援技術
  • 2015 - 2017 確率的手法を用いたTDC/ADC回路の最適設計とその設計自動化技術
  • 2012 - 2013 システムLSIのテスト効率化のためのアナログ回路向けストラクチャルテスト手法
  • 2007 - 2008 アプリケーション・環境適応型バス符号化による効率的システム設計手法
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論文 (60件):
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MISC (22件):
書籍 (8件):
  • はかる×わかる半導体 入門編 改訂版
    日経BPコンサルティング 2020
  • 電子回路
    実教出版 2019
  • はかる×わかる半導体 応用編
    日経BPコンサルティング 2019
  • はかる×わかる半導体 半導体テスト技術者検定3級問題集
    2014 ISBN:9784864430715
  • ウェスト&ハリス CMOS VLSI 回路設計 応用編
    丸善出版 2014 ISBN:9784621087206
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講演・口頭発表等 (76件):
  • 静電容量型MEMS加速度センサの自動生成
    (令和5年 電気学会全国大会 3-156 2023)
  • MOSFETのチャネル抵抗を用いたピエゾ抵抗型MEMS圧力センサの試作と評価
    (令和5年 電気学会全国大会 3-153 2023)
  • 確率的フラッシュ ADCのためのオフセット電圧可変なコンパレータ
    (2023年電子情報通信学会総合大会 C-12-24 2023)
  • 周波数同期回路を用いた環境変化にロバストな低消費電力発振回路
    (2023年電子情報通信学会総合大会 C-12-23 2023)
  • 連続時間型2次ΔΣ変調器に適したコンパレータの検討
    (2023年電子情報通信学会総合大会 A-1-1 2023)
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学歴 (7件):
  • 1998 - 2001 東京大学 工学系研究科 電子工学専攻
  • - 2001 東京大学 工学系研究科 電子工学
  • - 2001 東京大学
  • 1996 - 1998 東京大学 工学系研究科 電子工学専攻
  • 1992 - 1996 東京大学 工学部 電子工学科
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学位 (3件):
  • 学士(工学) (東京大学)
  • 修士(工学) (東京大学)
  • 博士(工学) (東京大学)
経歴 (11件):
  • 2015/10 - 現在 東京電機大学 工学部 教授
  • 2015/10 - 2017/03 東京電機大学 工学部 電気電子工学科 教授
  • 2015/10 - 2017/03 東京電機大学 工学部 電気電子工学科 助教(B)
  • 2014/04 - 2015/09 東京電機大学 工学部 電気電子工学科 准教授
  • 2014/04 - 2015/09 東京電機大学 工学部 電気電子工学科 助手
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委員歴 (44件):
  • 2022/11 - 現在 電子情報通信学会 基礎・境界ソサイエティ 英文論文誌 『Special Section on Circuits and Systems』編集委員会 編集委員
  • 2022 - 現在 ITC-Asia 2023 実行委員会 Program Co-Chair
  • 2021/04 - 現在 IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology編集委員会 編集委員
  • 2017/04 - 現在 IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology編集委員会 副編集委員長
  • 2017 - 現在 Associate Editors-in-Chief, IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology
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受賞 (8件):
  • 2017/11 - Test Technology Technical Council (TTTC), IEEE Computer Society 2016 JETTA/TTTC Best Paper Award Dynamic Power Integrity Control of ATE for Eliminating Overkills and Underkills in Device Testing
  • 2017/03 - 電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ 2016年度 電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ活動功労賞
  • 2017/03 - 電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ 電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ活動功労賞
  • 2012/09 - 電子情報通信学会 基礎・境界ソサイエティ 電子情報通信学会 基礎・境界ソサイエティ 編集活動感謝状
  • 2012 - Best Paper Award, 2012 Japan-Egypt Conference on Electronics, Communications and Computers
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所属学会 (7件):
IEEE ,  情報処理学会 ,  電子情報通信学会 ,  応用物理学会 ,  IEEE ,  IPSJ ,  IEICE
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