研究者
J-GLOBAL ID：200901096574214055   更新日: 2023年12月12日

小林 大輔

コバヤシ ダイスケ | KOBAYASHI Daisuke
所属機関・部署：
国立研究開発法人宇宙航空研究開発機構 宇宙科学研究所 宇宙機応用工学研究系

国立研究開発法人宇宙航空研究開発機構 宇宙科学研究所 宇宙機応用工学研究系 について


職名： 准教授
研究分野 (1件)： 電子デバイス、電子機器
研究キーワード (11件)： びっくりするコンピュータ ,  ぐったりするコンピュータ ,  宇宙電子工学 ,  スペースチップ工学 ,  極限環境IoT ,  ソフトエラー ,  宇宙線 ,  放射線 ,  信頼性 ,  大規模集積回路 ,  センサ・半導体デバイス
競争的資金等の研究課題 (8件)：
  • 2023 - 2026 放射線を当てずに放射線ソフトエラー信頼性を評価する技術
  • 2020 - 2023 高信頼性LSIの開発コスト削減に向けたソフトエラー耐性スクリーニングの実現
  • 2014 - 2017 光電子分光法を用いた極薄SiO$_2$/Si界面の欠陥とアモルファス構造の研究
  • 2012 - 2015 放射線による過渡的な局所昇温現象とそのソフトエラー耐性への影響
  • 2009 - 2011 硬X線光電子分光法と第一原理計算を用いた極薄酸化膜の光学的誘電率の研究
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論文 (46件)：
  • 査読付き学術雑誌論文のみ掲載. 2222
  • Daisuke Kobayashi, Masashi Uematsu, Kazuyuki Hirose. Threshold and Characteristic LETs in SRAM SEU Cross-Section Curves. IEEE Transactions on Nuclear Science. 2023. 70. 4. 707-713
  • Daisuke Kobayashi, Kazuyuki Hirose, Keita Sakamoto, Yuta Tsuchiya, Shogo Okamoto, Shunsuke Baba, Hiroyuki Shindou, Osamu Kawasaki, Takahiro Makino, Takeshi Ohshima. An SRAM SEU Cross Section Curve Physics Model. IEEE Transactions on Nuclear Science. 2022. 68. 3. 232-240
  • Keita Sakamoto, Masaki Kusano, Takanori Narita, Shigeru Ishii, Kazuyuki Hirose, Shunsuke Baba, Daisuke Kobayashi, Shogo Okamoto, Hiroyuki Shindou, Osamu Kawasaki, et al. Investigation of buried-well potential perturbation effects on SEU in SOI DICE-based flip-flop under proton irradiation. IEEE Transactions on Nuclear Science. 2021. 68. 6. 1222-1227
  • Daisuke Kobayashi. Scaling trends of digital single-event effects: A survey of SEU and SET parameters and comparison with transistor performance. IEEE Transactions on Nuclear Science. 2021. 68. 2. 124-148
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MISC (5件)：
特許 (5件)：
  • 半導体装置及び半導体演算装置
  • 半導体装置
  • 磁気抵抗メモリ素子及び磁気抵抗メモリ回路
  • 半導体装置
  • 半導体メモリの放射線耐性補償装置及びその方法並びに電子回路
書籍 (3件)：
  • Predicting, Characterizing, and Mitigating SEE in Advanced Semiconductor Technologies (IEEE NSREC Short Course Notebook)
    2019
  • 電気特性の測定、評価とデータ解釈
    技術情報協会 2015
  • ナノエレクロノニクスにおける絶縁超薄膜技術-成膜技術と膜・界面の物性科学
    株式会社エヌ・ティー・エス 2012
講演・口頭発表等 (65件)：
  • 査読付き国際会議発表のみ掲載
    (2222)
  • How harsh is space?-Equations that connect space and ground VLSI
    (Symposium on VLSI Technology and Circuits)
  • Soft- and hard-error radiation reliability of 228 kB 3T+1C oxide semiconductor memory
    (IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS))
  • Evaluation of X-ray resistance of submicron-size c-axis aligned crystalline oxide semiconductor
    (SID International Display Week Symposium and Seminar)
  • Design and heavy-ion testing of MTJ/CMOS hybrid LSIs for space-grade soft-error reliability
    (IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS))
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学歴 (2件)：
  • 2000 - 2005 東京大学 大学院新領域創成科学研究科 基盤情報学専攻
  • 1996 - 2000 東京大学 工学部 電子工学科
学位 (1件)：
  • 博士(科学) (東京大学)
経歴 (8件)：
  • 2023/04 - 現在 東京大学大学院 工学系研究科 電気系工学専攻 准教授
  • 2019/11 - 現在 国立研究開発法人宇宙航空研究開発機構 宇宙科学研究所 宇宙機応用工学研究系 准教授
  • 2017/07 - 現在 国立研究開発法人宇宙航空研究開発機構 研究開発部門 第一研究ユニット
  • 2020/03 - 2023/03 総合研究大学院大学 物理科学研究科 准教授
  • 2011/04 - 2019/12 東京大学大学院 工学系研究科 電気系工学専攻 助教
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委員歴 (1件)：
  • 2013 - 2020/03 科学技術専門家ネットワーク 専門調査員
受賞 (8件)：
  • 2022 - IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference Outstanding Conference Paper Award An SRAM SEU Cross Section Curve Physics Model
  • 2019 - IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference Committee IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference Award Basics of single event effect mechanisms and predictions
  • 2018 - 応用物理学会 シリコンテクノロジー分科会 応用物理学会シリコンテクノロジー分科会論文賞 Heavy-ion soft-errors in back-biased thin-BOX SOI SRAMs: Hundredfold sensitivity due to line-type multi-cell upset
  • 2015 - 国立研究開発法人宇宙航空研究開発機構・宇宙科学研究所 宇宙科学研究所長賞 超小型深宇宙探査機(PROCYON)の開発
  • 2011 - 公益財団法人宇宙科学振興会 宇宙科学奨励賞 宇宙機用LSIの動作を阻害する放射線パルスノイズの解明とモデル化
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所属学会 (5件)：
IEEE Electron Devices Society ,  Japan Society of Applied Physics ,  IEEE Nuclear and Plasma Sciences Society ,  IEEE Solid-State Circuits Society ,  Institute of Electronics, Information and Communication Engineers
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