文献
J-GLOBAL ID:200902063223610076
整理番号:87A0064735
X線定在波によるNiSi2/(111)Si界面の構造分析
Structure analysis of the NiSi2/(111)Si interface by the X-ray standing wave method.
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{{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=87A0064735©=1") }}
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{{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=87A0064735&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=D0208B") }}
著者 (4件):
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資料名:
巻:
246
号:
1/3
ページ:
755-759
発行年:
1986年05月15日
JST資料番号:
D0208B
ISSN:
0168-9002
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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180°回転双晶が無いNiSi
2エピタ...
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
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分類 (2件):
分類
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半導体の表面構造
, その他の構造決定法
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