文献

J-GLOBAL ID：200902105591645550   整理番号：94A0436635

2軸モデルと粗密パラメータ探索によるレーザスキャナの3次元測定における誤差の修正

Error correction in laser scanner three-dimensional measurement by two-axis model and coarse-fine parameter search.

著者 (4件)： TAMURA S (Osaka Univ. Medical School, Osaka, JPN) ,  KIM E-K (Osaka Univ. Medical School, Osaka, JPN) ,  CLOSE R (Osaka Univ. Medical School, Osaka, JPN) ,  SATO Y (Osaka Univ. Medical School, Osaka, JPN)
資料名： Pattern Recognition  (Pattern Recognition)
巻： 27  号： 3  ページ： 331-338  発行年： 1994年03月 
JST資料番号： D0611A  ISSN： 0031-3203  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 3次元レーザスキャナシステムにおける測定誤差を修正するための...

シソーラス用語： コンピュータビジョン ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=94A0436635&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=D0611A") }}

分類 (1件)： パターン認識  (JE07000S)

タイトルに関連する用語 (8件)： 2軸 ,  モデル ,  粗密 ,  パラメータ ,  探索 ,  レーザスキャナ ,  3次元測定 ,  誤差