文献
J-GLOBAL ID：200902113210556746
整理番号：94A0396787
超高電圧電子顕微鏡用熱引張試験台の設計と1620および1720Kでのサファイアのその場分解への応用
Design of a Hot Tensile Stage for an Ultra-High-Voltage Electron Microscope and Its Application to in Situ Deformation of Sapphire at 1620 and 1720 K.
-
出版者サイト
複写サービスで全文入手
{{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=94A0396787©=1") }}
-
高度な検索・分析はJDreamⅢで
{{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=94A0396787&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=C0253A") }}
著者 (3件)：
,
,
資料名：
巻：
77
号：
3
ページ：
839-842
発行年：
1994年03月
JST資料番号：
C0253A
ISSN：
0002-7820
CODEN：
JACTAW
資料種別：
逐次刊行物 (A)
記事区分：
原著論文
発行国：
アメリカ合衆国 (USA)
言語：
英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
2300Kまで操作可能な高温引張試験台の超高圧(3MV)電子...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ（有料）でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
,...
続きはJDreamIII（有料）にて
{{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=94A0396787&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=C0253A") }}
分類 (2件)：
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
その他の窯業製品
, 長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器
タイトルに関連する用語 (6件)：
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
,
,
,
,
,
前のページに戻る
