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J-GLOBAL ID：200902137553468997   整理番号：01A0836255

エポン切片のイオンエッチングによる走査電顕試料作製法とその三次元再構築への応用

著者 (4件)： 長門俊一 (福岡歯大 口腔解剖学講座) ,  久永豊 (福岡歯大 歯科矯正学講座) ,  清水大三郎 (愛媛大 医 実験実習機器セ) ,  藤原隆 (愛媛大 医 動物実験施設)
資料名： 電子顕微鏡  (日本電子顕微鏡学会会報)
巻： 36  号： 2  ページ： 131-134  発行年： 2001年07月31日 
JST資料番号： Y0541A  ISSN： 0417-0326  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： データシートなど  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： SEM観察のためのエポン切片のイオンエッチング法の要点及び幾...

シソーラス用語： イオンエッチング ,...

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分類 (1件)： 生体の顕微鏡観察法  (EA03050C)

引用文献 (4件)：

• 1) 清水大三郎,藤原隆,昆和典,一色伸子,津国秀彰:医・生電顕会誌,13, 31 (1998)
• 2) Fujiwara, T., Shimizu, D., Kon, K., Isshiki, N., Tsunokuni, H. and Aoyagi, S.: J. Electron Microsc., 49, 551 (2000)
• 3) Shimizu, D., Fujiwara, T., Kon, K., Isshiki, N. and Tsunokuni, H.: J. Electron Microsc., in press, 50, 551 (2001)
• 4) 久永豊:福岡歯大誌,印刷中

タイトルに関連する用語 (6件)： イオンエッチング ,  走査 ,  電顕 ,  試料作製 ,  再構築 ,  応用