単結晶シリコンの微小引っかき試験における延性/ぜい性遷移の研究

文献

J-GLOBAL ID：200902138915531435 整理番号：00A0407706

Ductile-to-brittle Transition in Microscratching Tests of Single Crystal Silicon.

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巻： 66 号： 4 ページ： 619-623 発行年： 2000年04月05日
JST資料番号： F0268A ISSN： 0912-0289 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

硬脆材料の研削機構を模擬する方法として引っかき試験法がある。...

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セラミック材料試験 , セラミック・磁器の性質

引用文献 (13件)：

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