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J-GLOBAL ID:200902149791807269   整理番号:00A0644346

金属を埋め込んだGaInAs/InPヘテロ接合バイポーラトランジスタの初めての作製とベース-コレクタ容量の減少

First Fabrication of GaInAs/InP Buried Metal Heterojunction Bipolar Transistor and Reduction of Base-Collector Capacitance.
著者 (5件):
資料名:
巻: 39  号: 6A  ページ: L503-L505  発行年: 2000年06月01日 
JST資料番号: F0599B  ISSN: 0021-4922  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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InPを使ったヘテロ接合バイポーラトランジスタの性能を向上さ...
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分類 (2件):
分類
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13-15族化合物を含む半導体-半導体接合  ,  トランジスタ 
引用文献 (11件):
  • 1) K. Kurishima: IEEE Trans. Electron Device 43 (1996) 2074.
  • 2) P. M. Asbeck, D. L. Miller, R. J. Anderson and F. H. Eison: IEEE Electron Device Lett. EDL-5 (1984) 310.
  • 3) Y. Miyamoto, J. M. M. Rios, A. G. Dentai and S. Chandrasekhar: IEEE Electron Device Lett. 17 (1996) 97.
  • 4) M. R. Frei, J. R. Hayes, J.-I. Song, H. M. Cox and C. Caneau: Appl. Phys. Lett. 61 (1992) 1193.
  • 5) U. Bhattacharya, M. J. Mondry, G. Hurts, I.-H. Tan, R. Pullela, M. Reddy, J. Guthrie, M. J. W. Rodwell and J. E. Bowers: IEEE Electron Device Lett. 16 (1995) 357.
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