Si単一電子トランジスタへの寄生金属-酸化物-半導体電界効果トランジスタの効果の抑制

文献

J-GLOBAL ID：200902158356737819 整理番号：98A0695944

Suppression of Effects of Parasitic Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistors on Si Single-Electron Transistors.

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著者 (5件)：

FUJIWARA A

FUJIWARA A について

(NTT Basic Res. Lab., Kanagawa, JPN)