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J-GLOBAL ID：200902161370341066   整理番号：97A0708583

誘電特性測定によるプリント配線板のイオンマイグレーションの解析

Analysis of Ionic Migration on PWBs by Means of Dielectric Property Measurement.

著者 (3件)： 津久井勤 (東海大 工) ,  横須賀洋児 (日立化成工業) ,  山口元男 (日立 日立研)
資料名： 回路実装学会誌  (Journal of Japan Institute for Interconnecting and Packaging Electronic Circuits)
巻： 12  号： 4  ページ： 247-254  発行年： 1997年07月 
JST資料番号： X0497A  ISSN： 1341-0571  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： プリント配線板の絶縁劣化の主原因であるイオンマイグレーション...

シソーラス用語： プリント基板 ,...
準シソーラス用語： 誘電特性 ,...

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分類 (1件)： プリント回路  (NA05040O)

引用文献 (10件)：

• 津久井勤. 電子機器における絶縁. 静電気学会誌. 1995, 19, 2, 83-91
• 津久井勤. プリント配線板のイオンマイグレーション発生パターンについての考察. サーキットテクノロジ. 1994, 9, 3, 90-198
• 津久井勤. プリント配線板のイオンマイグレーションの発生と誘電特性. 電気学会誘電・絶縁材料研究会. 1995, 19-28
• KOHMAN, G. T. Silver Migration in Electrical Insulation. Bell Syst. Tech. Journal. 1955, 34, 6, 1115-1147
• KAWANOBE, T. Metal Migration in Electronic Components. Proc. on 32nd Electronic Components Conf. 1982, 220-228

タイトルに関連する用語 (4件)： 誘電特性測定 ,  プリント配線板 ,  イオンマイグレーション ,  解析