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J-GLOBAL ID：200902171671348118   整理番号：02A0641074

ナノテスター 点接触電流イメージング原子間力顕微鏡法によるナノスケールでの電気的特性評価の新しい技法

A Nano Tester: A New Technique for Nanoscale Electrical Characterization by Point-Contact Current-Imaging Atomic Force Microscopy.

著者 (4件)： OTSUKA Y (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  NAITOH Y (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  MATSUMOTO T (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  KAWAI T (Osaka Univ., Osaka, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics. Part 2. Letters  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 2. Letters)
巻： 41  号： 7A  ページ： L742-L744  発行年： 2002年07月01日 
JST資料番号： F0599B  ISSN： 0021-4922  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ナノスケールで電流電圧(I-V)特性を測定するための新しい方...

シソーラス用語： *原子間力顕微鏡 ,...

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分類 (2件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B) ,  原子・分子のクラスタ  (BH09030O)

引用文献 (15件)：

• 1) V. Derycke, R. Martel, J. Appenzeller and Ph. Avouris: Nanoletters 1 (2001) 453.
• 2) A. Bachtold, P. Hadley, T. Nakanishi and C. Dekker: Science 294 (2001) 1317.
• 3) J. Kong, C. Zhou, A. Morpurgo, H. T. Soh, C. F. Quate, C. Marcus and H. Dai: Appl. Phys. A 69 (1999) 305.
• 4) E. Braun, Y. Eichen, U. Sivan and G. B. Yoseph: Nature 391 (1998) 775.
• 5) C. Mao, W. Sun, Z. Shen and N. C. Seeman: Nature 397 (1999) 144.

タイトルに関連する用語 (8件)： テスター ,  点接触 ,  イメージング ,  原子間力顕微鏡法 ,  ナノスケール ,  電気的特性 ,  評価 ,  技法